2017六西格瑪黑帶模擬測(cè)試題含答案(四套試題)

1、六西格瑪黑帶模擬測(cè)試題及答案 六西格瑪黑帶模擬測(cè)試題及答案(一)單選題（共 單選題（共 84 題，每題 題，每題 1 分） 分）1、題目： 、題目：2、題目：某制造企業(yè)需求一零件，規(guī)格要求為 、題目：某制造企業(yè)需求一零件，規(guī)格要求為 100±3cm，在選擇供應(yīng)商時(shí)發(fā)現(xiàn)：供 ，在選擇供應(yīng)商時(shí)發(fā)現(xiàn)：供應(yīng)商 應(yīng)商 A 提供的零件近似服從正態(tài)分布 提供的零件近似服從正態(tài)分布 N（100,1） ，供應(yīng)商 ，供應(yīng)商 B 提供的零件近似服從

2、均勻 提供的零件近似服從均勻分布 分布 U（97,103） ；供應(yīng)商 ；供應(yīng)商 A、B 提供產(chǎn)品的價(jià)格相同，同時(shí)，該企業(yè)非常關(guān)注質(zhì)量損 提供產(chǎn)品的價(jià)格相同，同時(shí)，該企業(yè)非常關(guān)注質(zhì)量損失。以下哪種說(shuō)法是正確的？ 失。以下哪種說(shuō)法是正確的？ A. 從理論上講，A 零件的合格率是 99.73%，供應(yīng)商 B 提供 100%合格品，因此應(yīng)選擇 B 作為供應(yīng)商 B. 從供應(yīng)商提供產(chǎn)品的分布看，均值相同，選擇供應(yīng)商 A 或 B 一樣 C. A 質(zhì)量損

3、失更低一些，應(yīng)選擇 A 作為供應(yīng)商 D. 根據(jù)上述信息無(wú)法做出判斷3、題目：某軸類(lèi)加工過(guò)程中已知對(duì)直徑的公差要求為 、題目：某軸類(lèi)加工過(guò)程中已知對(duì)直徑的公差要求為 10±0.02mm，假設(shè)直徑服從正 ，假設(shè)直徑服從正態(tài)分布，對(duì)該過(guò)程進(jìn)行過(guò)程能力分析發(fā)現(xiàn) 態(tài)分布，對(duì)該過(guò)程進(jìn)行過(guò)程能力分析發(fā)現(xiàn) Cp=1.0，Cpk=Cpu=0.8，因此可以判斷，該 ，因此可以判斷，該過(guò)程分布中心是： 過(guò)程分布中心是： A. 10.001mm B.

4、 10.002mm C. 10.004mm D. 10.006mm4、題目：黑帶小金研究的課題是關(guān)于絕緣澆鑄件的表面質(zhì)量問(wèn)題，在收集數(shù)據(jù)進(jìn)行分 、題目：黑帶小金研究的課題是關(guān)于絕緣澆鑄件的表面質(zhì)量問(wèn)題，在收集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析之前對(duì)現(xiàn)有的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析，以確認(rèn)測(cè)量系統(tǒng)是否可以信賴(lài)。為此，小金設(shè)計(jì) 析之前對(duì)現(xiàn)有的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析，以確認(rèn)測(cè)量系統(tǒng)是否可以信賴(lài)。為此，小金設(shè)計(jì) 了 MSA 方案：取兩名測(cè)量員， 方案：取兩名測(cè)量員，30 個(gè)被測(cè)工件

5、，每人對(duì)每個(gè)鑄件重復(fù)測(cè)量?jī)纱危瑴y(cè)量 個(gè)被測(cè)工件，每人對(duì)每個(gè)鑄件重復(fù)測(cè)量?jī)纱危瑴y(cè)量方法是在強(qiáng)光的照射下，目測(cè)是否有劃痕、磕碰等，判斷結(jié)果為合格與不合格。請(qǐng)問(wèn) 方法是在強(qiáng)光的照射下，目測(cè)是否有劃痕、磕碰等，判斷結(jié)果為合格與不合格。請(qǐng)問(wèn)在抽取被測(cè)工件時(shí)按以下哪種方案最為合適？ 在抽取被測(cè)工件時(shí)按以下哪種方案最為合適？ A. 用簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣的方法，從實(shí)際生產(chǎn)中隨機(jī)選取 30 個(gè)樣本 B. 按照日常生產(chǎn)的產(chǎn)品的實(shí)際合格率分別抽取合格品和不合格品

6、選取 30 個(gè)樣本 C. 盡可能按照 1:1 的比例抽取總數(shù)為 30 的合格品和不合格品，不合格品盡可能包括 日常出現(xiàn)的缺陷類(lèi)別 12、題目：某黑帶項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)在測(cè)量階段計(jì)算計(jì)量型數(shù)據(jù)的過(guò)程能力指數(shù)時(shí)，發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù) 、題目：某黑帶項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)在測(cè)量階段計(jì)算計(jì)量型數(shù)據(jù)的過(guò)程能力指數(shù)時(shí)，發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)是非正態(tài)數(shù)據(jù)，而且過(guò)程本身穩(wěn)定，無(wú)異常值。經(jīng)確認(rèn)該類(lèi)型數(shù)據(jù)本身非正態(tài)。項(xiàng)目 是非正態(tài)數(shù)據(jù)，而且過(guò)程本身穩(wěn)定，無(wú)異常值。經(jīng)確認(rèn)該類(lèi)型數(shù)據(jù)本身非正態(tài)。項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)準(zhǔn)備對(duì)

7、數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)化，以下關(guān)于將非正態(tài)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為正態(tài)的描述，正確的是： 團(tuán)隊(duì)準(zhǔn)備對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)化，以下關(guān)于將非正態(tài)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為正態(tài)的描述，正確的是： A. Box-Cox 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化是目前唯一的轉(zhuǎn)換方法 B. Box-Cox 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化能確保將任何非正態(tài)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為正態(tài)數(shù)據(jù) C. Box-Cox 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化方法不能確保將任何非正態(tài)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為正態(tài) D. Box-Cox 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化一定可以將無(wú)異常值的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為正態(tài)13、題目：一份訂單上有 、題目：一份訂單上有

8、5 個(gè)重要信息需要準(zhǔn)確無(wú)誤地填寫(xiě)，在已填寫(xiě)的 個(gè)重要信息需要準(zhǔn)確無(wú)誤地填寫(xiě)，在已填寫(xiě)的 1000 個(gè)訂單 個(gè)訂單中，發(fā)現(xiàn)有 中，發(fā)現(xiàn)有 30 個(gè)錯(cuò)誤。請(qǐng)問(wèn)，訂單填寫(xiě)過(guò)程的 個(gè)錯(cuò)誤。請(qǐng)問(wèn)，訂單填寫(xiě)過(guò)程的 DPMO 是多少？ 是多少？A. 6000 B. 30000 C. 60000 D. 8000014、題目：下列陳述中，哪個(gè)是質(zhì)量管理先驅(qū)休哈特的觀點(diǎn)？ 、題目：下列陳述中，哪個(gè)是質(zhì)量管理先驅(qū)休哈特的觀點(diǎn)？A. 取消工作定額，代之以領(lǐng)導(dǎo)職

9、能強(qiáng)化 B. 單一的觀測(cè)幾乎不能構(gòu)成客觀決策的依據(jù) C. 質(zhì)量管理活動(dòng)中重要的三個(gè)過(guò)程：質(zhì)量策劃、質(zhì)量控制和質(zhì)量改進(jìn) D. 質(zhì)量特征值偏離目標(biāo)值導(dǎo)致質(zhì)量損失15、題目：在半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)中，要將直徑 、題目：在半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)中，要將直徑 8 英寸（約合 英寸（約合 20 厘米）的晶圓盤(pán) 厘米）的晶圓盤(pán)（wafer）切削成 ）切削成 3000 粒小芯片（ 粒小芯片（die） 。目前由于工藝水平的限制，小芯片仍有約百分 。目前由于工藝水平的限

10、制，小芯片仍有約百分之一至二的不良率。在試生產(chǎn)了一段時(shí)間，生產(chǎn)初步達(dá)到了穩(wěn)定。為了檢測(cè)小芯片的 之一至二的不良率。在試生產(chǎn)了一段時(shí)間，生產(chǎn)初步達(dá)到了穩(wěn)定。為了檢測(cè)小芯片的不良率，在兩個(gè)月內(nèi)每天固定抽檢 不良率，在兩個(gè)月內(nèi)每天固定抽檢 5 個(gè)晶圓盤(pán)，測(cè)出不良小芯片總數(shù)，要根據(jù)這些數(shù) 個(gè)晶圓盤(pán)，測(cè)出不良小芯片總數(shù)，要根據(jù)這些數(shù)據(jù)建立控制圖，這時(shí)應(yīng)選用下列何種控制圖？ 據(jù)建立控制圖，這時(shí)應(yīng)選用下列何種控制圖？ A. NP 圖和 P 圖都可以，