2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁
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1、本文通過對(duì)數(shù)?；旌闲盘?hào)電路中最常用的ADC電路的故障模型、測(cè)試算法和內(nèi)建自測(cè)試結(jié)構(gòu)研究，提出切實(shí)可行的ADC電路可測(cè)性設(shè)計(jì)方案。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該ADC電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)方案具有測(cè)試時(shí)間短、測(cè)試精度高、內(nèi)建自測(cè)試結(jié)構(gòu)占用芯片面積小和易于片上集成等優(yōu)點(diǎn)。 首先對(duì)數(shù)模混合集成電路測(cè)試各種常用的方法，故障模型，測(cè)試算法以及測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)做了簡(jiǎn)要的說明，然后分析模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的故障模型，常用的測(cè)試算法，可測(cè)性設(shè)計(jì)方案以及內(nèi)建自測(cè)試結(jié)構(gòu)

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