超大規(guī)模集成電路形式驗(yàn)證的方法研究.pdf_第1頁(yè)
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1、本論文在較為全面、深入地研究和總結(jié)國(guó)內(nèi)外形式驗(yàn)證技術(shù)研究成果的基礎(chǔ)上,對(duì)組合電路及時(shí)序電路驗(yàn)證上分別進(jìn)行算法研究、設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),取得了較為理想的結(jié)果.主要內(nèi)容包括:組合電路驗(yàn)證是數(shù)字集成電路形式化設(shè)計(jì)驗(yàn)證的重用方面.論文給出了一種使用布爾可滿足性SAT的新穎組合電路等價(jià)性驗(yàn)證技術(shù).算法是在聯(lián)接電路(Miter)中進(jìn)行推理來(lái)簡(jiǎn)化驗(yàn)證問(wèn)題,推理中使用了與/非圖結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)化、二叉決策圖BDD擴(kuò)展、隱含學(xué)習(xí)多種方法,最后使用有效SAT解算器zChaf

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