快速Hankel變換在Z-Scan中的應(yīng)用.pdf

1、本課題由國家自然科學(xué)基金資助項目(批準(zhǔn)號：60025512)，教育部科學(xué)技術(shù)研究重點(重大)項目資助(批準(zhǔn)號00026)，高等學(xué)校骨干教師資助計劃資助，霍英東教育基金會資助。 通常Z-Scan實驗中，人們采用高斯光束，對于小的非線性相移，可以通過對歸一化透射率曲線的分析來得到非線性系數(shù)的大小和符號。高斯光束是理想情況下的激光基模輸出，在很多情況下，例如，一些染料激光器和半導(dǎo)體激光器輸出的激光往往不是高斯光束。為此Zhao等人提出

2、了top-hat光束下的Z-scan方法，在理論處理上他們采用了一個理想的top-hm光束，即限制光闌前的光束為一平面波，理論和實驗結(jié)果證明，測量靈敏度提高了2．5倍。但是對于實際的光束情況，我們往往只能得到一種近top-hat光束，即限制光闌處的電場分布和徑向有關(guān)，我們詳細(xì)討論了近top-hat光束下限制光闌、擴(kuò)束半徑、遠(yuǎn)場探測光闌的大小對歸一化透射率的影響。 我們利用快速Hakel變換的方法，對薄介質(zhì)的z掃描進(jìn)行了理論分析。