=系統(tǒng)校正設(shè)計根軌跡法超前校正

1、系統(tǒng)校正設(shè)計：根軌跡法超前校正系統(tǒng)校正設(shè)計：根軌跡法超前校正一校正原理一校正原理如果原系統(tǒng)的動態(tài)性能不好，可以采用微分校正，來改善系統(tǒng)的超調(diào)量和調(diào)節(jié)時間，滿足系統(tǒng)動態(tài)響應(yīng)的快速性與平穩(wěn)性的定量值。微分pMst校正的計算步驟如下。(1)作原系統(tǒng)根軌跡圖；(2)根據(jù)動態(tài)性能指標(biāo)，確定主導(dǎo)極點在S平面上的正確位置；如果主is導(dǎo)極點位于原系統(tǒng)根軌跡的左邊，可確定采用微分校正，使原系統(tǒng)根軌跡左移，過主導(dǎo)極點。(3)在新的主導(dǎo)極點上，由幅角條件計算

2、所需補(bǔ)償?shù)南嘟遣瞀?；計算公式為?11)iss????(s)][Garg180o?此相角差φ表明原根軌跡不過主導(dǎo)極點。為了使得根軌跡能夠通過該點，必須校正裝置，使補(bǔ)償后的系統(tǒng)滿足幅角條件(4)根據(jù)相角差φ，確定微分校正裝置的零極點位置；注意滿足相角差φ的零極點位置的解有許多組，可任意選定。在這里給出一種用幾何作圖法來確定零極點位置的方法如下過主導(dǎo)極點與原點作直線，○1isOA過主導(dǎo)極點作水平線，○2is平分兩線夾角作直線交負(fù)實軸于點，○