數(shù)?；旌想娐凡ㄐ巫詣?dòng)比較工具的開發(fā)研究.pdf

1、隨著芯片集成度的不斷提高和市場(chǎng)需求的增加，越來(lái)越多的系統(tǒng)芯片將模擬電路和數(shù)字電路集成在單個(gè)芯片中。這給芯片的功能驗(yàn)證提出了更高的要求，使驗(yàn)證成本迅速提高，在驗(yàn)證上所耗費(fèi)的時(shí)間甚至?xí)_(dá)到芯片開發(fā)周期的70％。仿真波形的比較是驗(yàn)證工作中的一個(gè)重要部分，通常是通過(guò)人工完成，這樣效率低下而且容易出錯(cuò)。目前對(duì)于數(shù)?；旌想娐夫?yàn)證的研究主要集中在仿真和建模方法上，對(duì)如何提高仿真波形比較的效率卻少有涉及。 本文針對(duì)數(shù)?；旌想娐贩抡娌ㄐ蔚奶攸c(diǎn)，把

2、波形自動(dòng)比較方法應(yīng)用到數(shù)?；旌想娐返尿?yàn)證過(guò)程中，能精確比較電路的各輪仿真結(jié)果，同時(shí)還能判斷不同的工藝參數(shù)、供電電壓、溫度(PVT)參數(shù)組合下仿真波形形狀是否一致，提高了驗(yàn)證效率。我們提出一種基于容差窗方法的波形精確比較方法，實(shí)現(xiàn)考慮時(shí)間容限和信號(hào)容限的波形比較，提高了波形比較的準(zhǔn)確性；同時(shí)，我們提出以開關(guān)事件為基礎(chǔ)建立的狀態(tài)序列數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，有效地降低存儲(chǔ)空間：并在此數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，我們?cè)O(shè)計(jì)出一種新的仿真波形時(shí)間偏移比較方法，能自動(dòng)劃分并