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1、電子設(shè)備傳統(tǒng)設(shè)計(jì)思路存在部分故障難以檢測(cè)、測(cè)試成本高等問(wèn)題,難以適應(yīng)當(dāng)前電子設(shè)備的設(shè)計(jì)。可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)作為一種新的設(shè)計(jì)思路,逐漸成為主流的測(cè)試技術(shù)。根據(jù)相關(guān)技術(shù)和規(guī)則,對(duì)電路進(jìn)行可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以提高電路可觀察性、可控制性。某控制類(lèi)電子系統(tǒng)內(nèi)一種典型的數(shù)?;旌想娐酚懈呖煽啃?、高故障檢測(cè)率和隔離率的設(shè)計(jì)需求。通過(guò)仿真發(fā)現(xiàn)該電路測(cè)試性水平較低,達(dá)不到測(cè)試性指標(biāo)。因此,本文以該電路為對(duì)象,研究相關(guān)測(cè)試性分析評(píng)估、可測(cè)性設(shè)計(jì)及驗(yàn)證技術(shù),以提高其
2、測(cè)試性水平。具體工作如下:
(1)提出了適合某電子系統(tǒng)數(shù)?;旌想娐返臏y(cè)試性分析與設(shè)計(jì)的方案。分析了可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方法和專(zhuān)項(xiàng)設(shè)計(jì)方法,詳細(xì)介紹了邊界掃描的原理、結(jié)構(gòu)組成和功能應(yīng)用,針對(duì)某電子系統(tǒng)數(shù)模混合電路的功能結(jié)構(gòu)特點(diǎn),選擇運(yùn)用測(cè)試性建模、分析與評(píng)估的方法和邊界掃描技術(shù),作為提升其測(cè)試性水平的分析和設(shè)計(jì)方法,明確了總體實(shí)現(xiàn)方案,闡述了該方案各步驟的研究?jī)?nèi)容。
(2)建立了該電路的多信號(hào)測(cè)試性模型并完成測(cè)試性
3、建模分析評(píng)估。研究對(duì)比了邏輯模型、信息流模型、混合診斷模型、多信號(hào)流圖模型等測(cè)試性建模方法;分析該電路功能組成和關(guān)鍵器件的故障模式作為建模的基礎(chǔ)數(shù)據(jù);選擇基于多信號(hào)流圖方法的建立了電路的測(cè)試性模型,并通過(guò)TEAMS軟件仿真對(duì)電路進(jìn)行了測(cè)試性評(píng)估,從而指導(dǎo)測(cè)試性設(shè)計(jì)的改進(jìn)。
(3)提出了適合該電路的基于移位“1”算法的改進(jìn)算法。通過(guò)研究對(duì)比多種邊界掃描測(cè)試矢量生成算法,如移位“1”或移位“0”算法、改良計(jì)數(shù)序列算法、等權(quán)值算法和
4、等權(quán)值補(bǔ)償算法。結(jié)合該電路提出了基于移位“1”算法的改進(jìn)算法,結(jié)果證明相對(duì)其他算法,該算法在完備性和緊湊性的綜合性能上更有優(yōu)勢(shì)。
(4)完成針對(duì)該電路的測(cè)試性驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)。主要內(nèi)容有故障注入電路設(shè)計(jì);測(cè)試控制電路的設(shè)計(jì)以及掃描鏈路的設(shè)計(jì);測(cè)試平臺(tái)單片機(jī)的程序設(shè)計(jì)和計(jì)算機(jī)的人機(jī)交互界面設(shè)計(jì)。
(5)完成基于故障注入的測(cè)試性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)。主要內(nèi)容有完整性測(cè)試、互聯(lián)測(cè)試、簇測(cè)試、場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試等。結(jié)果表明:該測(cè)試系統(tǒng)正常工作,故
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