數?；旌想娐房蓽y試性的若干問題研究.pdf

1、隨著微處理器技術及微電子技術的迅猛發(fā)展,電路系統(tǒng)的規(guī)模和復雜性都急劇上升,印刷電路板的密度不斷增加,使得電路系統(tǒng)的測試難度也越來越大.而數?；旌想娐返膹V泛應用給現(xiàn)有的測試方法也提出了新的挑戰(zhàn),其可測試性問題成為一個重要的研究課題.該文運用離散事件系統(tǒng)理論(Discrete EventSystem,DES)來進行數?；旌想娐返目蓽y試性分析,提供了一種對數字電路、模擬電路及數模混合電路測試統(tǒng)一的處理方法.該文的主要工作及取得的成果如下:●文

2、中系統(tǒng)研究了運用離散事件系統(tǒng)理論測試數模混合電路的數學模型,并驗證了其可行性,這樣數字電路和模擬電路就能夠在一個統(tǒng)一的框架內進行可測試性分析及故障診斷.●在采用DES理論分析數?；旌想娐窌r,其中一個重要工作就是求取電路的最小測試集,以達到減少測試時間、降低測試成本的目的.該文提出將其看作一個組合優(yōu)化問題,并運用遺傳算法和模擬退火算法相結合的混合優(yōu)化策略來解決,通過編程實現(xiàn)了該算法,達到了同時求取多個最小測試集的效果.●該文針對建立被測電