數(shù)?；旌想娐房蓽y試性的若干問題研究.pdf

1、隨著微處理器技術(shù)及微電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,電路系統(tǒng)的規(guī)模和復(fù)雜性都急劇上升,印刷電路板的密度不斷增加,使得電路系統(tǒng)的測試難度也越來越大.而數(shù)?；旌想娐返膹V泛應(yīng)用給現(xiàn)有的測試方法也提出了新的挑戰(zhàn),其可測試性問題成為一個(gè)重要的研究課題.該文運(yùn)用離散事件系統(tǒng)理論(Discrete EventSystem,DES)來進(jìn)行數(shù)模混合電路的可測試性分析,提供了一種對數(shù)字電路、模擬電路及數(shù)模混合電路測試統(tǒng)一的處理方法.該文的主要工作及取得的成果如下:●文

2、中系統(tǒng)研究了運(yùn)用離散事件系統(tǒng)理論測試數(shù)?；旌想娐返臄?shù)學(xué)模型,并驗(yàn)證了其可行性,這樣數(shù)字電路和模擬電路就能夠在一個(gè)統(tǒng)一的框架內(nèi)進(jìn)行可測試性分析及故障診斷.●在采用DES理論分析數(shù)模混合電路時(shí),其中一個(gè)重要工作就是求取電路的最小測試集,以達(dá)到減少測試時(shí)間、降低測試成本的目的.該文提出將其看作一個(gè)組合優(yōu)化問題,并運(yùn)用遺傳算法和模擬退火算法相結(jié)合的混合優(yōu)化策略來解決,通過編程實(shí)現(xiàn)了該算法,達(dá)到了同時(shí)求取多個(gè)最小測試集的效果.●該文針對建立被測電