數(shù)?；旌闲盘?hào)SoC測試關(guān)鍵問題研究.pdf

1、隨著集成電路制造工藝和設(shè)計(jì)水平的飛速發(fā)展，片上系統(tǒng)（System on Chip，SoC）成為當(dāng)今集成電路設(shè)計(jì)的一大主流。但是SoC測試的問題已成為制約其發(fā)展的“瓶頸”。隨著數(shù)字電路測試方法的不斷改進(jìn)，數(shù)字系統(tǒng)的診斷理論已趨近完善和成熟，目前主要存在測試時(shí)間優(yōu)化問題。在另一方面數(shù)字電路雖然比模擬電路發(fā)展速度快，但模擬電路在電子系統(tǒng)中占有絕對(duì)重要位置，在混合電路中模擬部分也會(huì)比數(shù)字部分容易發(fā)生故障。
　　本文針對(duì)數(shù)?；旌闲盘?hào) SoC

2、測試中數(shù)字部分的測試時(shí)間優(yōu)化問題及模擬電路故障診斷做了如下工作。
　　針對(duì)SoC測試調(diào)度問題的主要工作：1）針對(duì)SoC的IP核Wrapper掃描鏈平衡問題，采用基于差值二次分配的掃描鏈?zhǔn)沟煤藘?nèi)部掃描鏈平衡化，再對(duì)Wrapper輸入（輸出）單元分配，實(shí)現(xiàn)單核的測試時(shí)間優(yōu)化。2）針對(duì)多核測試調(diào)度問題，在Wrapper掃描鏈優(yōu)化的基礎(chǔ)上，對(duì) PAW問題進(jìn)行建模；應(yīng)用 NSGA-II算法進(jìn)行求解。該算法能有效的搜索最優(yōu)解，且解具有分布均勻

3、，收斂性好的優(yōu)勢。以ITC’02標(biāo)準(zhǔn)測試集中的電路h953，d695，p22810，p93791電路為對(duì)象，進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證，驗(yàn)證了算法的有效性。
　　針對(duì)模擬電路診斷問題的主要工作：1）針對(duì)模擬電路軟故障診斷問題，提出了模糊模式識(shí)別理論與故障字典法相結(jié)合的故障診斷方法，首先使用模糊 C均值按照故障狀態(tài)類進(jìn)行分類，根據(jù)各聚類中心建立故障字典，計(jì)算待診斷參數(shù)與各電路狀態(tài)的隸屬度，最后采用最大隸屬原則完成故障診斷。實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證診斷方法具有很好