移動(dòng)終端測(cè)試箱體中若干問(wèn)題的研究.pdf

1、近年來(lái)，由于傳輸線理論的簡(jiǎn)單和物理意義的明確，其在屏蔽領(lǐng)域的運(yùn)用又逐步升溫。傳輸線分析方法的簡(jiǎn)便性，其引起了很多學(xué)者的興趣。有的試著構(gòu)建有孔屏蔽腔帶負(fù)載的傳輸線模型。傳統(tǒng)的計(jì)算屏蔽效能是計(jì)算同一點(diǎn)中有屏蔽箱體和沒(méi)有屏蔽箱體的電壓的比值，這種計(jì)算方法的優(yōu)點(diǎn)是很容易算出值，但僅適合于低頻電場(chǎng)和磁場(chǎng)。假如在高頻，當(dāng)屏蔽體的尺寸與波長(zhǎng)可比時(shí)，電磁場(chǎng)區(qū)域的衰減必須要考慮，因此必須要有新的定義屏蔽效能的方法：用功率法計(jì)算屏蔽效能。
　　 隨

2、著電磁兼容檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展和提高，人們正針對(duì)不同的電子電器產(chǎn)品尋求更為簡(jiǎn)單便捷的檢測(cè)方法，尤其對(duì)于小型的電子產(chǎn)品，如：集成電路、手機(jī)、汽車電子零部件等。由于器件中集成模塊間的電磁性能問(wèn)題可以引起相應(yīng)器件的功能發(fā)生問(wèn)題。要很好的解決電磁干擾問(wèn)題，就必須準(zhǔn)確的探測(cè)器件各模塊的電磁干擾，如ETS—Lindgren屏蔽箱測(cè)試系統(tǒng)和索尼愛(ài)立信的眼鏡蛇測(cè)試系統(tǒng)就是解決上述問(wèn)題的測(cè)試系統(tǒng)。
　　 本文從測(cè)試系統(tǒng)的屏蔽效能是其主要的性能出發(fā)，總結(jié)

3、和分析了計(jì)算多層屏蔽體屏蔽效能的計(jì)算公式，更深入的分析了當(dāng)入射波斜入射時(shí)屏蔽效能的計(jì)算公式的有效性，并對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證。從屏蔽箱體的基本理論出發(fā)，提出了利用功率法計(jì)算帶孔腔體屏蔽效能的計(jì)算方法，功率法考慮到了電磁場(chǎng)區(qū)域的衰減，并且對(duì)其進(jìn)行仿真驗(yàn)證，進(jìn)一步研究了內(nèi)置PCB板的腔體的屏蔽效能來(lái)驗(yàn)證功率法的有效性。更分析和仿真了可用于移動(dòng)終端電磁兼容測(cè)試的屏蔽箱，該測(cè)試屏蔽箱采用性能優(yōu)越的超寬帶平面天線作為探測(cè)天線，具有天線尺寸小，帶寬覆蓋范圍寬