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1、隨著微電子技術(shù)和集成電路的飛速發(fā)展,電路由單一的數(shù)字電路或模擬電路逐步向具有一定功能的數(shù)?；旌想娐废到y(tǒng)方向發(fā)展,給集成電路的測試帶來了巨大的挑戰(zhàn),一種可行的方法就是內(nèi)建自測試(BIST)。數(shù)字 BIST技術(shù)已比較成熟,而模擬或數(shù)?；旌想娐返臏y試較為復(fù)雜,研究相對較晚,還沒有一種像數(shù)字電路那樣通用的BIST結(jié)構(gòu)理論。
本文在深入研究數(shù)?；旌想娐窚y試基礎(chǔ)上,設(shè)計了基于功能測試的BIST系統(tǒng)。利用過采樣和Σ-△調(diào)制技術(shù)生成測試激勵信
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