2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁
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1、隨著微電子技術(shù)和集成電路的飛速發(fā)展,電路由單一的數(shù)字電路或模擬電路逐步向具有一定功能的數(shù)模混合電路系統(tǒng)方向發(fā)展,給集成電路的測(cè)試帶來了巨大的挑戰(zhàn),一種可行的方法就是內(nèi)建自測(cè)試(BIST)。數(shù)字 BIST技術(shù)已比較成熟,而模擬或數(shù)?；旌想娐返臏y(cè)試較為復(fù)雜,研究相對(duì)較晚,還沒有一種像數(shù)字電路那樣通用的BIST結(jié)構(gòu)理論。
　　本文在深入研究數(shù)?；旌想娐窚y(cè)試基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了基于功能測(cè)試的BIST系統(tǒng)。利用過采樣和Σ-△調(diào)制技術(shù)生成測(cè)試激勵(lì)信

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