基于低功耗和測(cè)試生成優(yōu)化的BIST設(shè)計(jì)研究.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計(jì)復(fù)雜性的提高,對(duì)其測(cè)試遇到越來(lái)越多的困難,此時(shí)可測(cè)性設(shè)計(jì)應(yīng)運(yùn)而生,其中特別以BIST(Built-In Self-Test,內(nèi)建自測(cè)試)技術(shù)為代表,在集成電路設(shè)計(jì)中得到廣泛的應(yīng)用。但是BIST的偽隨機(jī)測(cè)試生成具有測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng),測(cè)試功耗過(guò)高的缺點(diǎn),嚴(yán)重影響了測(cè)試效率。如果不解決這些問(wèn)題,勢(shì)必會(huì)影響B(tài)IST技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。
　　針對(duì)這種情況,本文提出了基于LFSR(LinearFeedback Shift Regis

2、ter,線性反饋移位寄存器)—CA(Cellular Automata,細(xì)胞自動(dòng)機(jī))和遺傳算法優(yōu)化的低功耗BIST設(shè)計(jì)方案。該設(shè)計(jì)根據(jù)被測(cè)電路輸入端口的權(quán)值,構(gòu)造出相應(yīng)的加權(quán)CA,然后在LFSR和加權(quán)CA共同生成的加權(quán)偽隨機(jī)序列中插入若干中間向量,其作用是減少被測(cè)電路輸入端信號(hào)的翻轉(zhuǎn)次數(shù),同時(shí)又對(duì)故障覆蓋率有所貢獻(xiàn)。而中間向量的數(shù)目和每個(gè)向量變化的位置,都是通過(guò)遺傳算法的全局尋優(yōu)操作得到的。本設(shè)計(jì)將LFSR-CA和遺傳算法優(yōu)化的低功耗結(jié)