鎖相環(huán)片上抖動測量電路設(shè)計.pdf

1、隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進(jìn)步，鎖相環(huán)在系統(tǒng)芯片中的應(yīng)用越來越廣泛，時鐘抖動是表征鎖相環(huán)性能的最重要的參數(shù)之一。傳統(tǒng)的抖動測量主要使用昂貴的外部測試儀器，但隨著鎖相環(huán)的工作頻率不斷提高，這些方法不但增加了測量成本，而且引入了測量噪聲，降低了測量可靠性。基于內(nèi)建自測試原理的片上抖動測量電路有效地解決了這些問題。
　　 本文針對近年來應(yīng)用于測量鎖相環(huán)時鐘抖動的內(nèi)建自測試技術(shù)進(jìn)行了分析和探討，并總結(jié)出各種BIST方案在實際應(yīng)用時的優(yōu)缺點，然

2、后改進(jìn)了一種鎖相環(huán)片上抖動測量電路。該測量電路基于游標(biāo)振蕩器的原理，利用兩個振蕩回路振蕩周期的差值來測量信號抖動。電路有四種測量分辨率，可以根據(jù)不同的輸入頻率選擇不同的測量分辨率，在有效降低測量時間的同時節(jié)約了電路的測試成本；本電路能在高頻下直接測量鎖相環(huán)輸出信號的周期抖動，同時無需外部提供理想的參考信號；此外，文中使用了一個校準(zhǔn)方案對測量電路進(jìn)行了校準(zhǔn)，在大大降低校準(zhǔn)成本的同時提高了測量電路的可靠性。
　　 本文提出的鎖相環(huán)片