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1、布圖規(guī)劃是超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integrated circuit,VLSI)物理設(shè)計(jì)中一個(gè)重要的階段。它主要是規(guī)劃模塊在芯片上的形狀和位置。隨著集成電路設(shè)計(jì)的發(fā)展,越來(lái)越多的問題需要被考慮,特別是操作頻率的逐漸增加和芯片的更高的集成度,使得芯片上的面積、延遲、溫度等成為集成電路設(shè)計(jì)中嚴(yán)重的問題。
本文對(duì)大規(guī)模集成電路物理設(shè)計(jì)中的布圖/布局算法進(jìn)行了研究,包括模擬退火算法,禁忌搜索等方法,并
2、對(duì)布圖中的一些目標(biāo),如:面積、線長(zhǎng)、擁塞等進(jìn)行了考慮,提出了一些解決方法。論文的主要貢獻(xiàn)如下:
在模擬退火算法和禁忌搜索的基礎(chǔ)上提出了一種混合算法用于在有限的解空間中搜索最優(yōu)解,利用模擬退火來(lái)產(chǎn)生鄰域解,同時(shí)利用B*-tree表示法來(lái)表示布圖,以B*-tree的前序和中序序列作為禁忌對(duì)象。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明我們的方法能夠在更短的時(shí)間內(nèi)獲得較高的面積的利用率。
在處理多目標(biāo)最優(yōu)化問題時(shí),用傳統(tǒng)的線性加權(quán)函數(shù)方法平衡不
3、同的目標(biāo)很困難。為了克服這個(gè)問題,模糊準(zhǔn)則和隸屬函數(shù)被引入用來(lái)結(jié)合不同的目標(biāo)。它是一個(gè)很方便的方法用于結(jié)合沖突的目標(biāo)并且能夠利用專家知識(shí)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,這個(gè)方法穩(wěn)定有效,能在更短的時(shí)間內(nèi)得到令人滿意的解。通過實(shí)驗(yàn)結(jié)果,我們能夠?qū)?shù)設(shè)置的變化有一個(gè)直觀的理解。這個(gè)方法也能夠被延伸去解決其它大規(guī)模多目標(biāo)最優(yōu)化問題。
為了避免耗時(shí)的拆線重布,提出了一個(gè)新的二階段布圖規(guī)劃方法用于擁塞最優(yōu)化。我們采用了概率估計(jì)模型去評(píng)估線網(wǎng)的擁塞
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