系統(tǒng)貯存可靠性中參數(shù)漂移過程的研究.pdf

1、為了滿足市場激烈的競爭，使產(chǎn)品盡快進(jìn)入市場，以及為了滿足顧客的高期望，產(chǎn)品必須做得更穩(wěn)健，更可靠，因此在短時間內(nèi)產(chǎn)品幾乎觀察不到失效。在這種情況下，利用高應(yīng)力水平下的退化數(shù)據(jù)來對產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評估就變得很有必要。這種評估可通過加速退化測試來完成。這些試驗包括取代測試產(chǎn)品壽命而只測試產(chǎn)品性能隨時間退化的過應(yīng)力測試。隨著工程技術(shù)和科學(xué)知識的發(fā)展，許多現(xiàn)代產(chǎn)品比過去有更長的壽命和更高的可靠性。這樣，壽命測量和退化測量要比過去花費(fèi)更多的時間和

2、金錢。因此，在正常貯存條件下觀測失效時間就變得非常困難。在某些情況下甚至變得不可行。 本研究從實際工程背景和問題出發(fā)，基于具有貯存初始失效的系統(tǒng)貯存可靠性模型，R(t)=P(T≥t｜T>0)P(T>0)=R0Rs(t)，t≥0，應(yīng)用加速退化試驗，加快參數(shù)漂移過程，推導(dǎo)系統(tǒng)失效規(guī)律，建立系統(tǒng)貯存可靠性理論模型，對系統(tǒng)的貯存可靠性及剩余壽命進(jìn)行預(yù)測。本文在該領(lǐng)域的研究中，首次將伊藤過程引入到研究參數(shù)漂移過程，并將漂移方程X(t)=X