多層瓷介電容器長期貯存壽命可靠性研究.pdf

1、本文分析了多層瓷介電容器的結構、工藝、材料，對多層瓷介電容器在應用中的可靠性隱患進行了深入研究，針對多層瓷介電容器的薄弱環(huán)節(jié)制定了改進措施，改進后的多層瓷介電容器屬于高可靠產品，只存在與溫度相關的退化失效模式。本文研究制定了高可靠多層瓷介電容器適用的基于偽失效閾值的加速退化壽命試驗方法，利用較短時間的常溫貯存數據確定偽失效閾值，對退化數據運用線性退化模型進行分析處理，得到了給定偽失效閾值條件下的偽失效壽命預計結果。為驗證預計結果的準確性

2、，采用了威布爾分布的數據統(tǒng)計方法和灰色系統(tǒng)理論模型GM(1,1)分別對加速退化數據和常溫貯存數據進行了分析，結果表明本文提出的基于偽失效閾值的加速退化試驗方法的壽命預計結果與上述兩種方法一致，因此利用基于偽失效閾值的加速貯存退化試驗方法評價高可靠多層瓷介電容器的壽命是有效的、可行的。采用基于偽失效閾值的加速退化試驗方法可以獲取有限壽命范圍內的參數退化情況，與通?；谑Ыy(tǒng)計的加速貯存壽命試驗相比，能夠縮短試驗時間，成本更低，更適合工程應

3、用。
　　論文的主要內容包括以下幾個方面：
　?。?）針對多層瓷介電容器的結構特點，對結構的薄弱環(huán)節(jié)進行了分析，通過總結導致多層瓷介電容器失效的原因，提出了工藝過程中的改進措施，對多層瓷介電容器進行貯存壽命評價的先決條件為多層瓷介電容器已經消除了潛在失效模式，即多層瓷介電容器應為高可靠產品。
　　（2）根據高可靠產品失效率低的特點，研究制定了基于阿倫尼斯模型的加速退化試驗方法，利用常溫貯存數據確定了偽失效閾值，對加速退