實驗一 ttl集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試

1、實驗一TTL集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試,一.實驗目的1.掌握TTL集成與非門的邏輯功能和主要參數(shù)的測試方法2.掌握TTL邏輯門的使用規(guī)則3.進一步熟悉數(shù)字電路實驗箱的結(jié)構(gòu)、基本功能和使用方法,TTL與非門的工作原理,,二.實驗設備與器件 1.數(shù)字電路實驗箱 2.數(shù)字式萬用表 3.74LS20 10K電位器三.實驗原理 本實驗采用四輸入雙與非門74

2、LS20,即在一塊集成塊內(nèi)含2個互相獨立的與非門,每個與非門有四個輸入端。其邏輯符號及引腳排列如圖。,,,,,,,,,＆,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,,,,,,,,國標符號,74LS20引腳排列圖,,Vcc,GND,1.與非門的邏輯功能 當輸入有一個或一個以上是低電平時，輸出為高電平；只有輸入全是高電平時，輸出才是低電平（即：輸入

3、有0輸出1，輸入全1輸出0）。2.TTL與非門的主要參數(shù)（1）低電平輸出電源電流ICCL和高電平輸出電源電流ICCH ICCL是指所有輸入端懸空，輸出端空載時電源提供器件的電流。 ICCH是指輸出端空載，有一個以上輸入端接地，其余輸入端懸空時電源提供器件的電流。通常ICCL＞ ICCH。 ICCL和ICCH測試電路如圖（1）、（2）。,,電流較小,無法測量可不作.,(2)低電平輸入電流IiL和高電平輸入電流IiH

4、 IiL是指被測輸入端接地，其余輸入端懸空，輸出端空載時，由被測輸入端流出的電流值。 IiH是指被測輸入端接高電平，其余輸入端接地，輸出端空載時流入被測輸入端的電流值（一般該參數(shù)較小，可免于測試）。（3）扇出系數(shù)N0 N0是指門電路能驅(qū)動同類門的個數(shù)。 通常以低電平扇出系數(shù)IOL（灌電流負載）作為門的扇出系數(shù)。其測試電路如圖（5）。門的輸入端全部懸空，輸出端接灌電流負載RL，調(diào)節(jié)RL使IOL增大，VO

5、L隨之增高，當VOL達到0.4V時的IOL就是允許的最大負載電流，則：NO=IOL/IiL（通常N0≥8）。,,1k,（4）電壓傳輸特性 電壓傳輸特性是指門的輸出電壓VO隨輸入電壓Vi而變化的曲線。測試電路如圖(6)。采用逐點測試法，即：調(diào)節(jié)RW，逐點測得Vi及V0，然后繪出曲線。四.實驗內(nèi)容 在合適的位置選取一個14P插座，按定位標記插好74LS20集成塊。 1.驗證74LS20的邏輯功能 門的四個輸入

6、端接邏輯開關輸出插口,以提供”0”與”1”電平信號,開關向上輸出邏輯1,向下為邏輯0。門的輸出端接由LED發(fā)光二極管組成的0-1指示器顯示插口，LED亮為邏輯1，不亮為邏輯0。按表1逐個測試74LS20中兩個與非門的功能。,,表 1,2.分別按圖1、2、3、5接線，將測試結(jié)果記入表2中。,表 2,3.按圖6接線，調(diào)節(jié)電位器RW，使Ui從0向高電平變化，逐點測量Ui和U0的對應值，記入表3中。,表 3,五.實驗報告 1.紀錄