抗汞細菌的篩選、鑒定及其特性研究.pdf

1、目前我國的汞消費量不斷增大且造成了嚴重的環(huán)境污染，威脅著人類的健康。本文從長期受汞污染的土壤篩選馴化高效抗汞菌株，并利用細胞形態(tài)分析、API20E和16SrDNA方法對菌株進行鑒定，研究抗汞菌株的汞去除效果及適應參數(shù)進行優(yōu)化，同時利用質粒消除和質粒提取技術對該菌株的抗汞基因進行定位，取得了較好的研究結果。本論文的研究為治理汞污染的生物技術打下了良好基礎，具有重要的理論與實踐意義。
　　 1.經(jīng)過馴化篩選，獲得抗汞細菌2株，選擇其

2、中去汞能力強的菌株進行系統(tǒng)研究，并命名為PⅡ，該菌株可耐受最大Hg2+濃度為50mg·kg-1。
　　 2.經(jīng)細胞形態(tài)分析，可知PⅡ菌株為為革蘭氏陰性反應短桿菌，菌落為圓形，邊緣整齊，表面凸起，呈現(xiàn)淺黃色，半透明；API20E和16SrDNA方法對其進行鑒定，結果表明該抗汞菌株PⅡ，最終鑒定為惡臭假單胞菌(Pseudomonasputida)。
　　 3.對菌株PⅡ汞去除能力進行測試，結果表明抗汞菌株PⅡ對Hg2+的最大

3、適宜耐受濃度為30mg·kg-1；當Hg2+初始濃度為15mg·L-1時，培養(yǎng)24h后該菌株達到最高去汞率85.2％。
　　 4.環(huán)境條件(溫度、pH)對菌株PⅡ生長及去汞率的影響較大；抗汞菌株去除Hg2+的最適宜條件為：溫度30℃、pH值7.0。
　　 5.對抗汞菌株進行質粒提取，其質粒片段較大，在4kb-5kb左右；通過對PⅡ菌進行質粒消除實驗，結果發(fā)現(xiàn)質粒去除的菌株汞去除能力也隨之消失，即質粒的存在與菌株對汞的抗性