基于ieee1149.1標(biāo)準(zhǔn)的可測性設(shè)計優(yōu)化與評估研究

1、密級桂林電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文題目題目基于IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的可測性設(shè)計優(yōu)化與評估研究（英文）ResearchofTestabilityDesignfOptimizationEvaluationBasedonIEEE1149.1Stard研究生學(xué)號:112081310研究生姓名:黃小容指導(dǎo)教師姓名、職務(wù)指導(dǎo)教師姓名、職務(wù):顏學(xué)龍教授申請學(xué)科門類:工學(xué)碩士學(xué)科、?？?、專業(yè):精密儀器及機械提交論文日期:2014年4月論文答辯日期:2

2、014年6月摘要I摘要電路系統(tǒng)的高集成度、高復(fù)雜度、高密度化，使得系統(tǒng)的測試越來越困難，可測性設(shè)計成為解決這類難題的主要手段。邊界掃描測試技術(shù)方法是一種新型的結(jié)構(gòu)可測性設(shè)計方法，它可以極大地減少對電路板上物理測試點的需要。然而其串行性的特點延長了系統(tǒng)的測試時間，所以如何設(shè)計掃描鏈路來減少測試時間和提高故障覆蓋率成為可測性設(shè)計優(yōu)化和評估研究的重點和難點。本文在深入研究IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，重點研究可測性設(shè)計優(yōu)化和評估方法，以設(shè)

3、計復(fù)雜性最小化和提高測試完備性指標(biāo)為目標(biāo)，研究器件與網(wǎng)路的構(gòu)造模型、電路信息的提取、提高故障覆蓋率和縮短掃描鏈周期的方法。比較了貪婪算法、圖論算法、模擬退火算法和模擬退火遺傳混合算法對掃描鏈的優(yōu)化作用，總結(jié)各算法在實際應(yīng)用中的優(yōu)缺點。相比其他算法，模擬退火遺傳算法對復(fù)雜的數(shù)字電路的優(yōu)化結(jié)果最優(yōu)，最后輸出測試性評估報告，并保存在系統(tǒng)ini文件中，為可測性系統(tǒng)設(shè)計復(fù)雜性最小化和測試性改善最大化提供了依據(jù)。關(guān)鍵詞：關(guān)鍵詞：邊界掃描技術(shù)可測性設(shè)