散斑干涉法在工業(yè)質檢中的應用.pdf

1、電子散斑干涉測量技術(Electronic speckle pattern interferometry，簡稱ESPI)作為一種高精度的光學測量技術被廣泛應用于無損檢測和微變形檢測中，具有測量精度高、非接觸測量、測量速度快等特點。
　　 散斑條紋圖像中的相位信息與物體變形有關，常用的相位提取方法有條紋中心線法和相移法，由于電子散斑圖像中的噪聲含量較多，條紋對比度低，這為準確提取出圖像中與物體變形量相關的相位信息帶來較大的難度，利

2、用條紋中心線法很難得到精確的相位信息，故本文在散斑干涉測量系統(tǒng)中引入相移裝置，利用相移法提取散斑干涉圖像中包含的相位信息。本文對相移方法的選擇、相位圖的生成方式、包裹相位圖的濾波方法以及去包裹算法等關鍵圖像處理技術進行探討和研究。
　　 為提高測量精度，本文從系統(tǒng)的硬件組成出發(fā)，選擇適當?shù)墓鈱W器件及合理的機械結構搭建電子錯位散斑干涉測量系統(tǒng)。系統(tǒng)中錯位量對條紋對比度、測量靈敏度和測量精度均有較大影響，故本文對錯位量做了大量的研究

3、，并給出其科學選取范圍。利用搭建好的錯位-相移散斑干涉測量系統(tǒng)對輪胎氣泡缺陷進行無損檢測，對鋼板的微小變形量做定量測量。
　　 本文主要包括如下內容：
　　 [1]推導錯位散斑干涉測量系統(tǒng)中離面位移導數(shù)與干涉條紋圖像中相位的關系式，計算系統(tǒng)各部分參數(shù)，選取恰當器件搭建干涉測量系統(tǒng)。
　　 [2]利用MATLAB對不同錯位量下的錯位干涉條紋圖進行模擬，結合錯位量對系統(tǒng)條紋對比度、測量靈敏度和測量精度的理論模型展開分