金屬摻雜α-Bi2O3與銳鈦礦TiO2(101)表面的第一性原理研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩42頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、納米半導體光催化劑在很多方面都存著巨大的應用價值,尤其是在控制環(huán)境污染方面和研究開發(fā)新能源材料方面。隨著納米技術的不斷發(fā)展和材料模擬計算技術的不斷提高,對納米半導體光催化劑材料的研究以及設計出新型的半導體光催化劑材料已經(jīng)成為人們研究的熱點之一。
  在所有的納米半導體光催化劑研究當中,對TiO2和Bi2O3的研究最為熱切。目前的研究表明除了晶型與晶體尺寸對TiO2的光催化活性有影響外,表面性質(zhì)對它的光催化效果也有很重要的影響。這是

2、因為光催化反應大都發(fā)生在表面,而目前實驗和理論上已有針對不同的光催化反應過程對表而有不同程度的研究,因此有必要對表面進行深入的研究。在TiO2所有的表面中它的低指數(shù)面(101)最為穩(wěn)定的,同時也是暴露最多的表而,因此研究其(101)表面有實際應用的可能。另外一種重要的光催化劑半導體材料Bi2O3,其中α相為熱力學室溫穩(wěn)定相,其禁帶寬度為2.85eV,響應可見光的波長為440nm。為了進一步提高Bi2O3材料對可見光的利用,所以有必要為了

3、改善它的光催化活性而進行研究,其中摻雜是最有效的方法。
  本論文以α-Bi2O3和銳鈦礦相TiO2的(101)面作為研究對象,建立起不同的晶體模型并進行第一性原理的計算研究。研究的具體內(nèi)容和計算結果如下:
  1.Cu、In、Mo摻雜對α-Bi2O3的結構和電子特性的影響的研究。
  本章通過密度泛函理論首次對α相Bi2O3進行Cu、Mo、In取代摻雜計算,并且計算結果與實驗結果一致。計算表明,Cu摻雜以后在Bi2O

4、3的禁帶中出現(xiàn)雜質(zhì)態(tài),而Mo和In摻雜則是通過影響B(tài)i2O3價帶項和導帶底的位置來改變它的禁帶寬度。此外還對這三種取代摻雜的缺陷形成能進行比較。
  2.研究了TiO2的塊體和(101)表面的幾何結構和電子結構。
  通過第一性原理方法對塊體TiO2及其(101)表面進行理論研究。我們首先用MaterialsStudio軟件建立起TiO2的單胞模型和清潔的(101)表面的slab模型。然后利用VASP軟件對建立的模型進行結構

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論