2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
已閱讀1頁,還剩61頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、高場非對稱離子遷移譜檢測技術(shù)及相應(yīng)儀器的誕生于上世紀(jì)20世紀(jì)70年代,自其誕生以來已經(jīng)逐漸成為各個痕量分子檢測和分析領(lǐng)域的主要檢測和分析方法之一。由于其常壓工作環(huán)境、快速檢測、高靈敏度和低功耗的特點(diǎn),離子遷移譜技術(shù)尤其適用于實(shí)地便攜式檢測和各類在線實(shí)時分析檢測場合,在爆炸物、化學(xué)戰(zhàn)劑、毒品、化工、環(huán)境監(jiān)測、食品安全、生物醫(yī)療等等對檢測線、檢測速度和檢測通量性要求較高的領(lǐng)域,離子遷移譜技術(shù)成為主要檢測手段之一。
  本課題主要是研究

2、基于 MEMS工藝的高場非對稱離子遷移譜,主要研究內(nèi)容包括從結(jié)構(gòu)設(shè)計,電氣設(shè)計和芯片設(shè)計三個方面對FAIMS的系統(tǒng)組成進(jìn)行較為詳細(xì)的介紹。芯片設(shè)計主要介紹兩種芯片制造工藝,基于硅刻蝕的工藝以及基于LIGA工藝;電氣設(shè)計主要包括高頻高壓非對稱的射頻電場,補(bǔ)償電壓發(fā)生電路,微流檢測電路,環(huán)境檢測電路,整機(jī)控制和通訊控制電路等;結(jié)構(gòu)設(shè)計主要包括前端進(jìn)樣、過濾、電離、分離檢測等結(jié)構(gòu)設(shè)計。同時,基于搭建的測試品臺,探究高氣壓對FAIMS性能的影響

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論