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文檔簡介
1、隨著電力電子設(shè)備日趨復(fù)雜化,電子設(shè)備中存在的靜電放電(Electro-Static Discharge,ESD)問題逐漸凸顯,并已經(jīng)成為電子設(shè)備及系統(tǒng)的嚴(yán)重威脅。靜電放電具有高電位、強(qiáng)電場、瞬時大電流的特點(diǎn),其電流波形的上升時間小于1ns,所以會在極短時間內(nèi)產(chǎn)生很大的電流瞬態(tài)變化率。由于ESD干擾方式的多樣性以及工藝設(shè)計的局限性,單一的ESD防護(hù)方法難以解決電子設(shè)備的靜電問題。針對上述問題,本文對基于孔縫優(yōu)化和TVS管寄生參數(shù)補(bǔ)償?shù)腅S
2、D防護(hù)方法進(jìn)行研究,主要工作如下:
1.分析了人體模型和人體金屬模型,構(gòu)建了ESD發(fā)生器高頻電路模型,提取了放電電路的寄生參數(shù),研究了放電電流的三種數(shù)學(xué)模型,包括四指數(shù)函數(shù)模型、高斯函數(shù)模型、雙指數(shù)函數(shù)模型,驗證了ESD發(fā)生器高頻電路模型。
2.基于波導(dǎo)理論分析了孔縫泄漏的影響,分析了孔縫對電磁屏蔽效能的影響,研究了孔縫接地線的干擾機(jī)理,利用Matlab/Simulink建立理想的機(jī)殼屏蔽模型和帶孔隙的機(jī)殼屏蔽模型,
3、通過對模型進(jìn)行仿真研究,提出了孔縫優(yōu)化設(shè)計方法。
3.研究了TVS管的ESD防護(hù)機(jī)理,基于散射參數(shù)法提取了TVS管的內(nèi)阻抗,建立TVS管高頻寄生參數(shù)模型,提取了TVS管高頻寄生參數(shù),研究了高頻寄生參數(shù)對TVS管特性的影響,提出了TVS管寄生參數(shù)優(yōu)化的補(bǔ)償方法,通過實驗對補(bǔ)償方法進(jìn)行驗證。
理論分析與實驗結(jié)果表明,本文提出的方法能夠應(yīng)用于復(fù)雜電子設(shè)備的ESD問題中。以上述ESD防護(hù)方法的研究為基礎(chǔ),解決了智能電表和盆腔
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