已閱讀1頁，還剩73頁未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀
版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、該文人增強(qiáng)系統(tǒng)的自測試功能方面闡述了保證計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)可靠性等全壽命周期指標(biāo)的理論依據(jù)和方法.該文詳細(xì)論述了自測試技術(shù)對計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)的重要性,分析了單機(jī)系統(tǒng)到雙機(jī)熱備系統(tǒng)中自測試技術(shù)對系統(tǒng)性能的影響.該文介紹了現(xiàn)代可測性技術(shù)發(fā)展的前沿,闡述了什么是邊界掃描技術(shù)及IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于邊界掃描技術(shù)的規(guī)定.介紹了具有邊界掃描功能的器件結(jié)構(gòu),及如何應(yīng)用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)、板級(jí)、芯片級(jí)測試.系統(tǒng)的自測試功能是系統(tǒng)可測性設(shè)計(jì)的重要組成
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 計(jì)算機(jī)理論自測試題4
- 計(jì)算機(jī)理論自測試題1
- 視頻采集系統(tǒng)機(jī)內(nèi)自測試技術(shù)的研究.pdf
- 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片外建自測試技術(shù)研究.pdf
- NoC系統(tǒng)的內(nèi)建自測試(BIST)技術(shù)研究.pdf
- 電子系統(tǒng)內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 計(jì)算機(jī)測控技術(shù)與系統(tǒng)于微波電子課件第7章節(jié)計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)的總線技術(shù)
- 系統(tǒng)芯片（SOC）測試結(jié)構(gòu)與內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)EMC技術(shù)研究與實(shí)踐.pdf
- 計(jì)算機(jī)總線技術(shù)在測控系統(tǒng)中的應(yīng)用.pdf
- 自測試題
- 測控系統(tǒng)中計(jì)算機(jī)外總線技術(shù)的應(yīng)用研究.pdf
- 計(jì)算機(jī)總線技術(shù)在測控系統(tǒng)中的應(yīng)用研究.pdf
- SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計(jì)技術(shù)研究.pdf
- 黃酒發(fā)酵過程計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng).pdf
- 低功耗內(nèi)建自測試（BIST）設(shè)計(jì)技術(shù)的研究.pdf
- 內(nèi)建自測試的重復(fù)播種測試生成研究.pdf
- 溫室環(huán)境計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)的研制.pdf
- 計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)自測
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論