分析后幾張

1、空間點(diǎn)陣：空間點(diǎn)陣：將晶體中呈周期性排列且?guī)缀?、物理環(huán)境相同的基本組元(原子、離子、分子)抽象為一幾何點(diǎn)(陣點(diǎn))由此構(gòu)成的幾何圖形。倒易點(diǎn)陣倒易點(diǎn)陣：在晶體點(diǎn)陣的基礎(chǔ)上按一定對(duì)應(yīng)關(guān)系建立起來(lái)的空間幾何圖形，是晶體點(diǎn)陣的在晶體點(diǎn)陣的基礎(chǔ)上按一定對(duì)應(yīng)關(guān)系建立起來(lái)的空間幾何圖形，是晶體點(diǎn)陣的另一種表達(dá)形式。另一種表達(dá)形式。質(zhì)厚襯度質(zhì)厚襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的，適用于對(duì)復(fù)型膜試樣電子圖象作出解釋。晶體試樣在進(jìn)行

2、電鏡觀察時(shí)，由于各處晶體取向不同和(或)晶體結(jié)構(gòu)不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對(duì)應(yīng)試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個(gè)隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍射襯度衍射襯度。14.畫圖說(shuō)明衍襯成象原理，并說(shuō)明什么是明場(chǎng)象，暗場(chǎng)象和中心暗場(chǎng)象。畫圖說(shuō)明衍襯成象原理，并說(shuō)明什么是明場(chǎng)象，暗場(chǎng)象和中心暗場(chǎng)象。答：在透射電子顯微鏡下觀察晶體薄膜樣品所獲得的圖像，其襯度特征與該晶體材料同入射電子束交互作用產(chǎn)生的電子衍射

3、現(xiàn)象直接有關(guān)，此種襯度被稱為衍射襯度，簡(jiǎn)稱“衍襯”?利用單一光束的成像方式可以簡(jiǎn)單地通過(guò)在物鏡背焦平面上插入一個(gè)孔徑足夠小的光闌（光闌孔半徑小于r）來(lái)實(shí)現(xiàn)。?明場(chǎng):?光欄孔只讓透射束通過(guò)熒光屏上亮的區(qū)域是透射區(qū)?暗場(chǎng):?光欄孔只讓衍射束通過(guò)熒光屏上亮的區(qū)域是產(chǎn)生衍射的晶體區(qū)1、薄膜樣品的制備方法（工藝過(guò)程）、薄膜樣品的制備方法（工藝過(guò)程）1）、從實(shí)物或大塊試樣上切割厚度為0。3~0。5mm厚的薄片。電火花縣切割法是目前用得最廣泛的方法，

4、它是用一根往返運(yùn)動(dòng)的金屬絲做切割工具，只能用于導(dǎo)電樣品。2）、樣品薄片的預(yù)先減薄。預(yù)先減薄的方法有兩種即機(jī)械法和化學(xué)法。機(jī)械減薄法是通過(guò)手工研磨來(lái)完成的，把切割好的薄片一面用粘結(jié)劑粘在樣品座表面，然后在水砂紙磨盤上進(jìn)行研磨減??；把切割好的金屬薄片放入配制好的化學(xué)試劑中，使它表面受腐蝕而繼續(xù)減薄。3）、最終減。雙噴嘴電解拋光法：將預(yù)先減薄的樣品剪成直徑為3mm的圓片，裝入樣品夾持器中，進(jìn)行減薄時(shí)，針對(duì)樣品兩個(gè)表面的中心部位各有一個(gè)電解液噴

5、嘴。序數(shù)有關(guān)；晶體結(jié)構(gòu)分析——基于通道花樣襯度。掃描電鏡試樣要求掃描電鏡試樣要求：1.樣品要求干燥無(wú)污染去磁斷口可直接觀察平面試樣應(yīng)浸蝕.樣品尺寸一般為1030mm電子探針：原理莫塞萊定率，測(cè)定X射線波長(zhǎng)、能量確定元素，測(cè)定強(qiáng)度確定含量應(yīng)用：進(jìn)行微區(qū)成分分析1、波譜儀和能譜儀各有什么優(yōu)缺點(diǎn)、波譜儀和能譜儀各有什么優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn):1）能譜儀探測(cè)X射線的效率高。2）在同一時(shí)間對(duì)分析點(diǎn)內(nèi)所有元素X射線光子的能量進(jìn)行測(cè)定和計(jì)數(shù)，在幾分鐘內(nèi)可得到定性

6、分析結(jié)果，而波譜儀只能逐個(gè)測(cè)量每種元素特征波長(zhǎng)。3）結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，穩(wěn)定性和重現(xiàn)性都很好4）不必聚焦，對(duì)樣品表面無(wú)特殊要求，適于粗糙表面分析。缺點(diǎn)：1）分辨率低。2）能譜儀只能分析原子序數(shù)大于11的元素；而波譜儀可測(cè)定原子序數(shù)從4到92間的所有元素。3）能譜儀的Si(Li)探頭必須保持在低溫態(tài)，因此必須時(shí)時(shí)用液氮冷卻。分析鋼中碳化物成分可用能譜儀；分析基體中碳含量可用波譜儀。2、舉例說(shuō)明電子探針的三種工作方式（點(diǎn)、線、面）在顯微成分分析中的應(yīng)

7、用。舉例說(shuō)明電子探針的三種工作方式（點(diǎn)、線、面）在顯微成分分析中的應(yīng)用。答：(1)、定點(diǎn)分析：將電子束固定在要分析的微區(qū)上用波譜儀分析時(shí)，改變分光晶體和探測(cè)器的位置，即可得到分析點(diǎn)的X射線譜線；用能譜儀分析時(shí)，幾分鐘內(nèi)即可直接從熒光屏（或計(jì)算機(jī)）上得到微區(qū)內(nèi)全部元素的譜線。(2)、線分析：將譜儀（波、能）固定在所要測(cè)量的某一元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置把電子束沿著指定的方向作直線軌跡掃描，便可得到這一元素沿直線的濃度分布情況。

8、改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。(3)、面分析：電子束在樣品表面作光柵掃描，將譜儀（波、能）固定在所要測(cè)量的某一元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置，此時(shí)，在熒光屏上得到該元素的面分布圖像。改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。也是用X射線調(diào)制圖像的方法。3、要在觀察斷口形貌的同時(shí)，分析斷口上粒狀?yuàn)A雜物的化學(xué)成分，選用什么儀器？用怎樣、要在觀察斷口形貌的同時(shí)，分析斷口上粒狀?yuàn)A雜物的化學(xué)成分，選用什么儀器？用怎樣的操作方式進(jìn)行具體