基于混沌搜索的測(cè)試產(chǎn)生算法和測(cè)試向量無(wú)關(guān)位識(shí)別器研究.pdf

1、隨著集成電路測(cè)試技術(shù)的不斷發(fā)展，瞬態(tài)電流測(cè)試（IDDT Testing）作為傳統(tǒng)電壓測(cè)試和穩(wěn)態(tài)電流測(cè)試方法的一個(gè)補(bǔ)充，越來(lái)越受到研究領(lǐng)域和工業(yè)界的關(guān)注。 瞬態(tài)電流測(cè)試產(chǎn)生需要一次產(chǎn)生多個(gè)向量（兩個(gè)或兩個(gè)以上），測(cè)試產(chǎn)生算法比較復(fù)雜，耗時(shí)較多，因此研究高效的測(cè)試產(chǎn)生算法具有重要的意義。 論文首先闡述了數(shù)字電路測(cè)試的發(fā)展情況以及數(shù)字電路測(cè)試的基本理論與方法，并對(duì)現(xiàn)有的數(shù)字電路測(cè)試產(chǎn)生算法進(jìn)行了總結(jié)。 接著，針對(duì)電路的

2、開路故障，提出一種基于混沌搜索的IDDT 測(cè)試產(chǎn)生算法。 該算法充分考慮了電路的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，利用FAN 算法的反向蘊(yùn)含模塊激活故障，采用混沌搜索實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)電流差別最大化。該算法在保證一定故障覆蓋率的同時(shí)有效地降低了測(cè)試產(chǎn)生時(shí)間。SPICE 模擬試驗(yàn)結(jié)果表明，該算法用于瞬態(tài)電流測(cè)試產(chǎn)生是可行的。 隨后，針對(duì)IDDT 測(cè)試產(chǎn)生算法搜索空間較大的問題，提出了一種電路劃分策略。該策略通過分析電路故障信號(hào)在電路中傳播的過程，找到影響故

3、障信號(hào)傳播的三類節(jié)點(diǎn)，并由此找到控制這些節(jié)點(diǎn)邏輯值的輸入端，從而剔除對(duì)傳播故障信號(hào)沒有貢獻(xiàn)的原始輸入，減小了搜索空間。 最后，針對(duì)組合電路給定的測(cè)試向量集，設(shè)計(jì)了一種無(wú)關(guān)位識(shí)別器。對(duì)于一個(gè)給定的測(cè)試集，將有些原始輸入置換成相反的邏輯值不會(huì)改變故障覆蓋率。通過對(duì)故障傳播路徑的分析和對(duì)ATPG 算法中蘊(yùn)含和確認(rèn)模塊的改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)這樣原始輸入的識(shí)別。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，約有26％的原始輸入可置為0 或1。找到盡可能多的這樣的原始輸入，對(duì)降