利用無關位增加測試向量分組的長度.pdf

1、隨著制造工藝的進步，集成電路的復雜度隨之快速增加，導致對集成電路的測試變得愈發(fā)困難。目前，得到公認的能夠解決測試問題的一種可行方法是使用可測性設計，即在對集成電路進行設計的同時就考慮對它的測試問題，使得集成電路在生產出來以后比較容易地被測試。內建自測試技術是一種普遍使用的可測性設計方法。
　　 由被測電路自己施加測試向量的內建自測試方法是最近新提出的一種自測試技術。該技術把被測電路本身看作是一種可利用的資源，在對被測電路施加第一

2、個測試向量之后，將被測電路內部節(jié)點的響應值用觸發(fā)器捕獲，并反饋到電路的輸入端作為被測電路的下一個測試向量。
　　 本文對MinTest測試集中的無關位和相應電路內部節(jié)點響應值中的未知位進行了研究，提出了一個未知位的標識規(guī)則。通過該規(guī)則，可以計算出已知電路的所有內部節(jié)點的響應值。
　　 在此基礎上，針對由被測電路自己施加測試向量的內建自測試技術，提出一種充分利用測試向量中的無關位來增加測試向量分組長度的方法。該方法先由含無

3、關位的測試向量產生出相應電路內部節(jié)點的響應向量，然后通過分析測試向量與響應向量之間的關系，給出一些啟發(fā)式規(guī)則并構建相應的有向圖，最后用深度優(yōu)先搜索方法查找出PxM個有向圖的最長公共路徑。通過分析得知，無關位的應用，可以延緩備選反饋節(jié)點數(shù)目的減少速度，但是測試向量中無關位的存在直接導致響應向量中未知位的存在，而未知位的出現(xiàn)加速了備選反饋節(jié)點數(shù)目的減少。好在未知位所占的比例并不大，對于ISCAS’85的基準電路而言，響應向量中未知位的比例均