利用無關(guān)位增加測試向量分組的長度.pdf

1、隨著制造工藝的進(jìn)步，集成電路的復(fù)雜度隨之快速增加，導(dǎo)致對集成電路的測試變得愈發(fā)困難。目前，得到公認(rèn)的能夠解決測試問題的一種可行方法是使用可測性設(shè)計，即在對集成電路進(jìn)行設(shè)計的同時就考慮對它的測試問題，使得集成電路在生產(chǎn)出來以后比較容易地被測試。內(nèi)建自測試技術(shù)是一種普遍使用的可測性設(shè)計方法。
　　 由被測電路自己施加測試向量的內(nèi)建自測試方法是最近新提出的一種自測試技術(shù)。該技術(shù)把被測電路本身看作是一種可利用的資源，在對被測電路施加第一

2、個測試向量之后，將被測電路內(nèi)部節(jié)點的響應(yīng)值用觸發(fā)器捕獲，并反饋到電路的輸入端作為被測電路的下一個測試向量。
　　 本文對MinTest測試集中的無關(guān)位和相應(yīng)電路內(nèi)部節(jié)點響應(yīng)值中的未知位進(jìn)行了研究，提出了一個未知位的標(biāo)識規(guī)則。通過該規(guī)則，可以計算出已知電路的所有內(nèi)部節(jié)點的響應(yīng)值。
　　 在此基礎(chǔ)上，針對由被測電路自己施加測試向量的內(nèi)建自測試技術(shù)，提出一種充分利用測試向量中的無關(guān)位來增加測試向量分組長度的方法。該方法先由含無

3、關(guān)位的測試向量產(chǎn)生出相應(yīng)電路內(nèi)部節(jié)點的響應(yīng)向量，然后通過分析測試向量與響應(yīng)向量之間的關(guān)系，給出一些啟發(fā)式規(guī)則并構(gòu)建相應(yīng)的有向圖，最后用深度優(yōu)先搜索方法查找出PxM個有向圖的最長公共路徑。通過分析得知，無關(guān)位的應(yīng)用，可以延緩備選反饋節(jié)點數(shù)目的減少速度，但是測試向量中無關(guān)位的存在直接導(dǎo)致響應(yīng)向量中未知位的存在，而未知位的出現(xiàn)加速了備選反饋節(jié)點數(shù)目的減少。好在未知位所占的比例并不大，對于ISCAS’85的基準(zhǔn)電路而言，響應(yīng)向量中未知位的比例均