ECT系統(tǒng)電容測(cè)量電路仿真及其數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、層析成像技術(shù)是近年來發(fā)展起來的一門新興的過程檢測(cè)技術(shù)，該項(xiàng)技術(shù)在解決多相流檢測(cè)問題上有巨大的發(fā)展?jié)摿蛷V闊的工業(yè)應(yīng)用前景。其中，電容層析成像技術(shù)(ECT)以其成本低、適用范圍廣、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、非侵入式、安全性能好等優(yōu)點(diǎn)，成為目前該領(lǐng)域中發(fā)展的主流和研究熱點(diǎn)，但離實(shí)際應(yīng)用尚有一段距離，因此有待進(jìn)一步研究和發(fā)展。 由于電容測(cè)量問題是影響電容層析成像系統(tǒng)測(cè)量精度和重建圖像質(zhì)量的關(guān)鍵和難點(diǎn)之一，所以對(duì)微小電容測(cè)量電路的研究是極為重要的。并且

2、電容層析成像系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)處理數(shù)據(jù)，則對(duì)數(shù)據(jù)采集與處理的速度也有較高的要求。因此，本文針對(duì)ECT系統(tǒng)中電容測(cè)量電路及其測(cè)量數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進(jìn)行研究。 本文在對(duì)目前應(yīng)用于電容層析成像系統(tǒng)中的幾種測(cè)量電路進(jìn)行分析討論的基礎(chǔ)上，選擇一種交流激勵(lì)電容測(cè)量電路應(yīng)用于電容層析成像系統(tǒng)中。重點(diǎn)對(duì)交流激勵(lì)電容測(cè)量電路的測(cè)量原理、抗雜散性和原理誤差進(jìn)行理論分析。 鑒于數(shù)字信號(hào)處理器件(DSP)具有較快的運(yùn)行速度和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力等優(yōu)點(diǎn)，設(shè)計(jì)基