基于飛思卡爾8位MCU的集成電路功能失效分析技術(shù).pdf

1、本文論述了集成電路失效分析的方法，并針對(duì)不同類型的電路給出了具體的分析實(shí)例。文章內(nèi)容主要分為三部分，第一部分包含第一到第四章，主要講述集成電路失效分析所必備的基本知識(shí)。包括：主要失效模式和機(jī)理、分析設(shè)備和分析流程。第二部分和第三部分是文章的核心內(nèi)容，分別講述了存儲(chǔ)器電路和混合信號(hào)電路的分析方法。文章的主要目的是總結(jié)以存儲(chǔ)器電路為代表的數(shù)字電路的常用分析方法，并在此基礎(chǔ)上探索了數(shù)?；旌想娐返姆治龇椒?，透析兩種不同電路的差別給分析過(guò)程上帶來(lái)

2、的挑戰(zhàn)。 對(duì)于存儲(chǔ)器電路的研究主要是通過(guò)筆者所作的幾十個(gè)案例，從中將失效模式和失效機(jī)理的規(guī)律性聯(lián)系總結(jié)出來(lái)，提出較為科學(xué)的分析流程并以具體實(shí)例加以說(shuō)明，目的在于提高分析這種類型電路的效率。對(duì)于混合信號(hào)電路，文章以模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC為例，探索了基于數(shù)字電路分析儀器的分析思路，指出了對(duì)電路功能理解和借助微探針技術(shù)的電路分析方法，并給出了一個(gè)具體案例的分析過(guò)程，目的在于提高分析這種類型電路的成功率。 實(shí)際工作的效果證明，論文所作