2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著當(dāng)前的半導(dǎo)體工藝水平步入深亞微米階段,芯片的集成度空前提高,芯片不斷增加的復(fù)雜性對于驗證和測試工作提出了很高的要求。 SDU M08是一種與Microchip公司的PICl6C57指令集完全兼容的8位RISCMCU IP核,本文研究了功能驗證在SDU_M(jìn)08驗證中的應(yīng)用。 在SDU M08的功能驗證中有兩個重要的要素:驗證環(huán)境的構(gòu)建、功能覆蓋率。驗證環(huán)境的構(gòu)建主要解決芯片的驗證方案和激勵生成機(jī)制兩大問題,功能

2、覆蓋率主要解決功能驗證的完備性問題。SDU_M(jìn)08 IP核的驗證方案是總體上采用Bottom-up的方法,把驗證工作分為模塊級、系統(tǒng)級兩個層次。使用硬件驗證語言Vera構(gòu)建驗證環(huán)境,功能覆蓋率由驗證程序自動統(tǒng)計。 最后本文使用FPGA對SDU_M(jìn)08進(jìn)行了硬件建模,以接近實際環(huán)境的速度進(jìn)行仿真驗證,進(jìn)一步對設(shè)計的正確性進(jìn)行確認(rèn)。 本文通過對SDU_M(jìn)08的功能驗證,研究了利用硬件驗證語言建立驗證環(huán)境,研究了驗證自動化在

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