已閱讀1頁(yè)，還剩75頁(yè)未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀
版權(quán)說(shuō)明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、以基準(zhǔn)電壓為參考，將數(shù)字量D作為輸入量，將模擬量A作為輸出量，使這兩個(gè)相對(duì)的量巧妙地組合在一起形成了數(shù)模轉(zhuǎn)換器-DAC。正象這樣，也可以用適當(dāng)?shù)姆椒▽?shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)和高分辨率電壓表結(jié)合起來(lái)完成對(duì)DAC靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試。 本研究是根據(jù)構(gòu)建虛擬儀器系統(tǒng)的基本原則，應(yīng)用GPIB總線，將數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)ATS 60e Blazer!和程控高精度數(shù)字表HP3458A結(jié)合起來(lái)，建立了一個(gè)完整的DAC虛擬儀器測(cè)試環(huán)境，實(shí)現(xiàn)對(duì)DAC的測(cè)
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請(qǐng)與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā).pdf
- 題目 簡(jiǎn)易數(shù)字集成電路參數(shù)測(cè)試儀
- 數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 數(shù)字集成電路電流測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試壓縮方法研究.pdf
- 數(shù)字集成電路老化測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試儀測(cè)試通道電路設(shè)計(jì).pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試儀測(cè)試通道電路設(shè)計(jì)
- 數(shù)字集成電路測(cè)試儀硬件的設(shè)計(jì)
- 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì).pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試矢量輸入方法研究和軟件實(shí)現(xiàn).pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試儀軟件設(shè)計(jì).pdf
- 數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試硬件技術(shù)研究.pdf
- 數(shù)字集成電路的測(cè)試儀器畢業(yè)論文
- 簡(jiǎn)易數(shù)字集成電路測(cè)試儀的設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn) -論文
- 數(shù)字集成電路靜態(tài)時(shí)序分析的研究與設(shè)計(jì).pdf
- 數(shù)字集成電路可測(cè)試性設(shè)計(jì)研究與應(yīng)用.pdf
- 基于粒子群算法的數(shù)字集成電路測(cè)試生成研究.pdf
- 數(shù)字集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)的研究.pdf
- 亞微米數(shù)字集成電路測(cè)試與驗(yàn)證方法研究及實(shí)現(xiàn).pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論