基于粒子群算法的數(shù)字集成電路測試生成研究.pdf

1、隨著微電子技術(shù)的進步，集成電路的規(guī)模越來越大，結(jié)構(gòu)也越來越復雜，這使得數(shù)字集成電路的測試生成變得越來越難。那些傳統(tǒng)的測試生成算法已不再適用。國內(nèi)外的許多學者已經(jīng)提出了“基于遺傳算法的數(shù)字電路的測試生成算法”。該算法對于某些電路是非常有效的，在很大程度上縮短了測試時間，提高了測試效率。但它還不是一種普遍適用的有效的算法。本文在基于模擬的測試生成算法的基礎(chǔ)上利用粒子群算法生成電路的測試集。 本文以數(shù)字集成電路的測試生成為研究對象，采

2、用單固定型故障模型，以提高算法的故障覆蓋率和減少測試生成時間為主要目標，將一種新型的、結(jié)構(gòu)簡單的算法—粒子群算法及其改進算法，應(yīng)用于組合電路的測試生成、時序電路的初始化、時序電路的測試序列的生成和測試集優(yōu)化。本文的主要研究內(nèi)容和所取得的成果如下： 1.將粒子群算法應(yīng)用于組合電路的測試生成，與基于遺傳算法的測試生成算法相比，縮短了測試時間，提高了故障覆蓋率。表明了算法的有效性。 2.利用粒子群算法進行時序電路的初始化，由于

3、該算法具有內(nèi)在的并行性和選擇性，因此在較短的時間里就能使盡可能多的觸發(fā)器有確定的狀態(tài)。實驗結(jié)果表明了該算法的可行性。 3.利用粒子群算法進行時序電路測試序列的生成。實驗結(jié)果表明該算法能有效的提高故障覆蓋率和減少測試生成時間。 4.利用粒子群算法優(yōu)化電路的測試集。時序電路中觸發(fā)器的數(shù)目越大，測試序列就越長，占用很多內(nèi)存空間。該算法能有效的壓縮測試集，從而得到電路的最小測試集。實驗結(jié)果表明了算法的有效性和可行性。 5