數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)軟件設計.pdf

1、隨著科學技術的發(fā)展，集成電路產(chǎn)品在社會生活中的應用越來越廣泛。如今，在工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和社會生活的各個方面無不存在大量的集成電路產(chǎn)品，這些電子產(chǎn)品的大量存在也推動著社會的持續(xù)向前發(fā)展。其中對集成電路的測試貫穿于集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的全過程，在這個過程中要完成集成芯片的功能測試、技術指標測試，芯片的中測和成品的測試，以及用戶入庫檢測等一系列測試任務，以確保集成芯片的質(zhì)量。由此可見，集成電路測試在整個集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中占據(jù)著舉足輕重的地位。
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2、文介紹了一款基于ARM內(nèi)核實現(xiàn)的高精度、低成本、速度快、易操作且具有良好可擴展性的中低檔數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)，并著重介紹了數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)軟件的總體設計和軟件設計中所用到的技術。本測試系統(tǒng)硬件可提供最多32管腳的數(shù)字集成電路測試，測試向量深度可達2M，最快實現(xiàn)10M的測試頻率，并可根據(jù)所測芯片的類型選擇相應的測試項目。測試系統(tǒng)軟件分為三大模塊：下層ARM程序模塊、USB驅(qū)動模塊、上位機軟件模塊。其中下層ARM程序采用ADS1.2開發(fā)

3、工具進行開發(fā)，實現(xiàn)各個測試板的驅(qū)動程序和ARM內(nèi)核主程序；USB驅(qū)動模塊借助VC6.0工具設計完成，是USB總線的接口驅(qū)動程序，實現(xiàn)ARM與上位機的通信；上位機模塊使用C＃語言在VS2008下開發(fā)完成，是用戶的操作模塊，供用戶設置測試工程數(shù)據(jù)，而整個工程的所有數(shù)據(jù)信息通過SQL Server2000保存。采用這幾種語言和開發(fā)工具進行開發(fā)，讓本集成電路測試軟件系統(tǒng)在集聚了它們各自優(yōu)勢的情況下，又不失兼容性。另外，讓軟件的各個組成模塊又保持