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1、本科畢業(yè)設(shè)計論文題目簡易數(shù)字集成電路測試儀的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)所在系電氣與信息工程系專業(yè)電子信息工程班級電信xxx學(xué)號xxxxxxxx學(xué)生姓名xxxxxx指導(dǎo)教師xxxxxx2010年6月摘要I摘要隨著數(shù)字集成電路日益廣泛的應(yīng)用,其相關(guān)的測試技術(shù)也顯得愈發(fā)重要。為了保證數(shù)字集成電路的功能和性能參數(shù)符合技術(shù)要求,在集成電路的設(shè)計驗(yàn)證、產(chǎn)品檢驗(yàn)以及現(xiàn)場維護(hù)等方面都需要對集成電路進(jìn)行測試。而測試設(shè)備是必不可少的工具,因此研究它們的測試技術(shù)和開發(fā)測試設(shè)
2、備具有重要的意義。本文所設(shè)計的集成電路測試儀采用MCS51單片機(jī)為核心,構(gòu)建數(shù)字集成電路的測試儀器,該儀器能夠通過單片機(jī)程序?qū)?shù)字集成芯片插座進(jìn)行控制和測試,可以完成對TTL7454、CMOS40004500系列芯片的測試。測試儀使用了串口通信方式的LCD漢字液晶顯示器,以便節(jié)省出更多的單片機(jī)接口供測試更多管腳的集成電路。針對不同型號的集成電路Vcc和GND位置不同,在電路中使用了P溝道CMOS管來作為Vcc切換開關(guān)。測試儀設(shè)計了總線標(biāo)
3、準(zhǔn)接口RS232,能夠?qū)崿F(xiàn)與PC機(jī)的聯(lián)機(jī)。通過對大量的TTL、CMOS集成電路的分析,建立了測試數(shù)據(jù)庫。通過編寫測試程序,最終以速度快、準(zhǔn)確率高的測試結(jié)果實(shí)現(xiàn)了測試TTL7454、CMOS40004500系列芯片的任務(wù)。論文第一章闡述此次設(shè)計的背景及意義、國內(nèi)外數(shù)字電路測試系統(tǒng)現(xiàn)狀、本文要解決的主要問題。第二章對系統(tǒng)總體方案進(jìn)行描述。第三章詳細(xì)說明整個硬件系統(tǒng)的構(gòu)成。第四章主要說明軟件測試的實(shí)現(xiàn)。第五章敘述測試結(jié)果。通過對實(shí)驗(yàn)電路和程序
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