測試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術的研究.pdf

1、系統(tǒng)芯片SoC是當前國際VLSI的發(fā)展趨勢和新世紀集成電路發(fā)展的主流。SoC不論在開發(fā)周期，還是在系統(tǒng)功能、性能方面，均具有無可比擬的優(yōu)點。與此同時，隨著SoC集成IP核數(shù)目的增多，功能越來越復雜，SoC的測試數(shù)據(jù)量、測試功耗也隨之急劇增加，測試成本變得更加昂貴，進而也就為SoC的測試帶來了更大的挑戰(zhàn)。對此，本文圍繞SoC的測試數(shù)據(jù)壓縮問題展開了研究，并提出了新的壓縮/解壓方案，來達到減少SoC測試數(shù)據(jù)量、縮短測試時間，并盡可能降低硬件

2、開銷和測試功耗的目的。 編碼壓縮技術作為測試數(shù)據(jù)壓縮方法的一個重要分支，已被廣泛采用。本文分析了一些典型的編碼技術，雖然壓縮效率比較高，但是長游程的編碼的壓縮率不是很理想。針對這個問題，本文提出了編碼前綴映射的壓縮方法和長游程的二次編碼壓縮方法。 首先，本文詳細論述SoC測試面臨的挑戰(zhàn)、SoC測試相關概念、系統(tǒng)芯片SoC和IP核基本概念和SoC測試數(shù)據(jù)壓縮技術的基本要求。然后，重點介紹了SoC測試數(shù)據(jù)的壓縮技術，并詳細討

3、論幾種經(jīng)典的編碼壓縮技術，分析了這些編碼壓縮技術的各自的優(yōu)點和缺點，在此基礎上提出了編碼前綴映射的壓縮方法，通過將編碼的前綴進行一一映射，使得編碼的前綴的平均長度達到最小。最后，本文提出了長游程編碼的二次編碼的壓縮方法，其思想是：首先對測試向量進行如下的預處理：無關位進行填充處理和測試向量的相容合并、對測試向量進行排序和測試向量的差分變換，通過這些預處理減小了測試向量的體積，增加0的比率和長游程的比率，預處理后對差分變量進行一次編碼，然