片上系統(tǒng)SoC測(cè)試數(shù)據(jù)分組壓縮方法的研究.pdf

1、SoC技術(shù)給VLSI的設(shè)計(jì)帶來了一場(chǎng)革命,它大大提高了芯片的產(chǎn)量,顯著地縮短了芯片的開發(fā)周期.SoC技術(shù)使得芯片的集成度和速度迅速提高,芯片測(cè)試的復(fù)雜性和測(cè)試數(shù)據(jù)量隨之激增,而另一方面自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的帶寬卻非常有限,導(dǎo)致SoC的測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng),測(cè)試成本急劇上升,SoC測(cè)試面臨著嚴(yán)峻的挑戰(zhàn). 目前解決這類問題的一種有效技術(shù)為SoC測(cè)試源劃分.測(cè)試源劃分技術(shù)主要分為三類:測(cè)試集生成算法壓縮、BIST和測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù).本論文主要研究

2、的對(duì)象為測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù). 由于對(duì)確定位分布不平衡的多掃描鏈測(cè)試集使用模式相容壓縮的效果不理想.對(duì)此問題,本文提出了基于多掃描鏈結(jié)構(gòu)的分組標(biāo)準(zhǔn)向量差分壓縮方法,該方法把測(cè)試集按多掃描鏈結(jié)構(gòu)排列后,根據(jù)測(cè)試向量之間相同的內(nèi)部模式相容關(guān)系將測(cè)試集劃分為若干組,再分別對(duì)各組進(jìn)行模式相容壓縮.接著轉(zhuǎn)置測(cè)試模式,使用標(biāo)準(zhǔn)向量差分方法實(shí)現(xiàn)測(cè)試模式的差分,再用距離標(biāo)記游程編碼對(duì)差分序列進(jìn)行編碼壓縮,獲得了比FDR.編碼更高的壓縮率,同時(shí)測(cè)

3、試模式差分時(shí)所用的CSR數(shù)量大大低于FDR編碼. 隨后本文提出測(cè)試數(shù)據(jù)分組字典統(tǒng)計(jì)編碼方法.該方法將測(cè)試向量以固定長(zhǎng)度劃分為若干個(gè)數(shù)據(jù)字段,依次把各測(cè)試向量中位置次序相同的數(shù)據(jù)字段劃分為一組,再分別統(tǒng)計(jì)各組內(nèi)數(shù)據(jù)字段的出現(xiàn)頻率,運(yùn)用分組字典統(tǒng)計(jì)編碼實(shí)現(xiàn)壓縮,此方法中字典索引分為組數(shù)號(hào)和組內(nèi)索引兩部分,組數(shù)號(hào)由解壓電路的組數(shù)計(jì)數(shù)器自動(dòng)生成,從而有效地降低了字典索引的平均長(zhǎng)度,得到優(yōu)于FDR編碼和Huffman選擇編碼的壓縮率,而且