基于特征距離和性能分析的混合電路測試.pdf

1、隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路的電路密度不斷增加，這使得集成電路的測試難度增加，而數(shù)?；旌想娐返膽?yīng)用更使測試的難度增大。數(shù)?；旌想娐返墓收显\斷一直是個難點，也是電子系統(tǒng)集成技術(shù)的重點研究方向之一，我們急需運用新的理論、新的方法來解決此問題。偽隨機測試技術(shù)是一種測試線性時不變模擬電路元件的一種新的有效的方法。它不直接測試電路的性能參數(shù)，而是通過分析輸入、輸出隨機過程的統(tǒng)計量，構(gòu)建特征空間，通過在特征空間中分析，來對

2、電路有無故障進行分類。本文所做的主要工作：通過分析特征空間中電路集的協(xié)方差矩陣，本文利用每個電路在特征空間中到電路集的距離概念，計算出待測電路到無故障電路集和有故障電路集的距離，并通過比較這兩個距離的大小關(guān)系來判別電路有無故障，對電路進行分類。直接在m維特征空間分析待測電路，從而不必在m維空間中挑選特征對，利用特征對分析電路有無故障。本文給出了一種基于混合電路性能分析的電路參數(shù)估計的方法。該方法可以根據(jù)電路性能參數(shù)的不同要求，設(shè)置性能的