基于部分掃描的跳變時(shí)延故障測(cè)試及ATPG方法的研究.pdf

1、當(dāng)前在工業(yè)上對(duì)集成電路的故障測(cè)試主要還集中于呆滯型故障的檢測(cè)，而隨著半導(dǎo)體技術(shù)的高速發(fā)展，使得芯片的運(yùn)行速率不斷上升，工藝的特征尺寸的日益縮小，相應(yīng)的時(shí)延故障測(cè)試需求也變得越來(lái)越迫切。由于集成電路性能要求高，對(duì)系統(tǒng)的可靠性要求苛刻，時(shí)延故障的存在不但影響系統(tǒng)的運(yùn)行性能，甚至成為致命的隱患。根據(jù)現(xiàn)今半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)，特別是在工藝進(jìn)入納米尺度范圍，在今后若干年內(nèi)時(shí)延故障必將成為測(cè)試所面臨的熱點(diǎn)問(wèn)題。因此，開(kāi)展對(duì)時(shí)延故障的測(cè)試研究意義重大。

2、
　　 本文的研究重點(diǎn)是跳變時(shí)延故障測(cè)試，跳變時(shí)延故障是一種重要時(shí)延故障模型，比較適合在工業(yè)中應(yīng)用。同時(shí)考慮到跳變故障測(cè)試實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件電路成本的影響，本文對(duì)跳變時(shí)延故障測(cè)試放棄了傳統(tǒng)的全掃描結(jié)構(gòu)，而結(jié)合了部分掃描技術(shù)展開(kāi)研究。本文分別在物理架構(gòu)和向量生成兩個(gè)方面對(duì)基于部分掃描使用增強(qiáng)掃描觸發(fā)器的跳變時(shí)延故障測(cè)試進(jìn)行研究。同時(shí)本文提出了基于部分掃描的寬邊跳變時(shí)延故障測(cè)試方式，按照跳變時(shí)延故障覆蓋率的角度對(duì)測(cè)試結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn)，并且給出了

3、對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量生成方法。
　　 本文的主要研究成果和創(chuàng)新之處體現(xiàn)在：
　　 本文提出了基于部分掃描使用增強(qiáng)掃描觸發(fā)器的跳變時(shí)延測(cè)試，并給出了它的電路結(jié)構(gòu)和測(cè)試方式。同時(shí)本文針對(duì)困擾基于部分掃描使用增強(qiáng)掃描觸發(fā)器的跳變時(shí)延測(cè)試的無(wú)循環(huán)時(shí)序電路跳變故障向量生成的問(wèn)題，給出了擴(kuò)展時(shí)間展開(kāi)使用ETEM組合電路的自動(dòng)向量生成成方法。通過(guò)同全掃描類(lèi)似方法比較，基于部分掃描使用增強(qiáng)掃描觸發(fā)器的跳變時(shí)延測(cè)試在大大減少硬件的同時(shí)獲得大體相

4、當(dāng)?shù)墓收细采w率。
　　 本文提出了基于部分掃描的寬邊跳變時(shí)延故障測(cè)試方式，給出了它的電路結(jié)構(gòu)和測(cè)試方式。從改善跳變時(shí)延故障覆蓋率的角度提出了改進(jìn)方法，并且給出了該方法的觸發(fā)器選擇算法。同時(shí)本文也對(duì)應(yīng)的使用組合電路ATPG方式的測(cè)試向量生成方法。與全掃描寬邊跳變時(shí)延故障測(cè)試相比，改進(jìn)后部分掃描的寬邊跳變時(shí)延故障測(cè)試方式在大大減少硬件，可以獲得幾乎相同的故障覆蓋率，在部分電路上跳變故障覆蓋率甚至好于使用全掃描的同等方式。