基于處理器藍(lán)牙PMU的功能驗(yàn)證研究.pdf

1、隨著半導(dǎo)體制造工藝的改進(jìn)，使得單個(gè)片子上可以集成的管子數(shù)目得到極大增加，設(shè)計(jì)芯片的功能變得越來(lái)越復(fù)雜，但保證設(shè)計(jì)功能正確的驗(yàn)證能力已經(jīng)不能滿(mǎn)足設(shè)計(jì)的要求。功能驗(yàn)證已經(jīng)成為制約設(shè)計(jì)發(fā)展速度乃至整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的瓶頸，而解決這個(gè)瓶頸的辦法就是在功能驗(yàn)證中引入新的驗(yàn)證方法學(xué)和基于新方法學(xué)上的驗(yàn)證技術(shù)。大量實(shí)踐證明，基于事務(wù)的驗(yàn)證重用方法學(xué)是提高功能驗(yàn)證效率的最有效的方法之一。本文在該方法學(xué)的基礎(chǔ)上以藍(lán)牙 PMU(power managem

2、ent unit)低功耗優(yōu)化設(shè)計(jì)作為研究對(duì)象，研究 SOC設(shè)計(jì)中藍(lán)牙的低功耗設(shè)計(jì)與功能驗(yàn)證技術(shù)。
　　本文首先介紹了功能驗(yàn)證的研究背景，論述了SOC設(shè)計(jì)中功能驗(yàn)證的目的和意義，在 SOC設(shè)計(jì)功能復(fù)雜度不斷提高的情況下保證設(shè)計(jì)功能與實(shí)際功能的一致性，使得 SOC的功能驗(yàn)證面臨著完備性、可重用性、驗(yàn)證效率等各種挑戰(zhàn)。為了解決挑戰(zhàn)中的各種問(wèn)題，引入討論了SOC功能驗(yàn)證的三大方法與動(dòng)態(tài)驗(yàn)證技術(shù)以及功能驗(yàn)證流程中驗(yàn)證計(jì)劃的制定、測(cè)試平臺(tái)的搭

3、建以及覆蓋率收斂的各個(gè)環(huán)節(jié)。然后通過(guò)對(duì)藍(lán)牙 PMU的低功耗設(shè)計(jì)，研究 PMU藍(lán)牙低功耗設(shè)計(jì)的各種方式，通過(guò)對(duì)藍(lán)牙 PMU工作模式優(yōu)化和各模塊活動(dòng)狀態(tài)嚴(yán)格控制，在不影響功能的前提下盡可能的關(guān)掉不用的邏輯單元，從而使藍(lán)牙的功耗得到了有效降低。
　　在 PMU的功耗優(yōu)化設(shè)計(jì)完成之后，利用功能驗(yàn)證來(lái)保證 PMU低功耗優(yōu)化設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)功能與實(shí)際功能的一致性，重點(diǎn)討論了藍(lán)牙 PMU的驗(yàn)證過(guò)程。在功能驗(yàn)證過(guò)程中首先根據(jù) PMU單元的設(shè)計(jì)特點(diǎn)制定驗(yàn)

4、證策略，然后驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)以確保測(cè)試平臺(tái)的各個(gè)模塊都能正常工作，為后續(xù) PMU的測(cè)試仿真提供一個(gè)穩(wěn)定可靠的基礎(chǔ)。對(duì)于 PMU的功能驗(yàn)證采用從簡(jiǎn)到難的順序進(jìn)行，首先進(jìn)行單元級(jí)驗(yàn)證，根據(jù) PMU設(shè)計(jì)的驗(yàn)證目標(biāo)編寫(xiě)各個(gè)功能點(diǎn)的測(cè)試用例并對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行仿真調(diào)試，分析了在仿真調(diào)試中遇到的各種問(wèn)題。在完成所有功能點(diǎn)的驗(yàn)證之后，為了確保驗(yàn)證的完備性，我們引入了代碼覆蓋率，通過(guò)代碼覆蓋率檢查分析來(lái)了解設(shè)計(jì)代碼的驗(yàn)證情況。經(jīng)過(guò)全面驗(yàn)證，PMU代碼覆蓋率達(dá)到