熒光偏振分子印跡檢測系統(tǒng)的研究.pdf

1、熒光偏振分子印跡檢測技術(shù)包括熒光偏振分子印跡技術(shù)和熒光偏振檢測技術(shù)，本研究主要針對(duì)熒光探針光學(xué)測量部分的嵌入式控制系統(tǒng)和上位機(jī)軟件部分展開。
　　論文首先介紹了熒光偏振檢測系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)，闡述了光學(xué)測量部分的嵌入式控制系統(tǒng)，嵌入式控制系統(tǒng)采用基于ARM Cortex-M3內(nèi)核的微控制器LPC1768作為處理器完成控制操作。并且詳細(xì)闡述了下位機(jī)的整體框架和設(shè)計(jì)特點(diǎn)。
　　其次，對(duì)熒光探針即熒光分子印跡聚合物的制備原理和制備工藝

2、進(jìn)行了說明，利用分子印跡聚合物的特異識(shí)別功能，可以進(jìn)行一系列生物大分子的檢測。詳細(xì)介紹了熒光分子印跡聚合物的制備過程，以及通過粒徑測試，紅外光譜分析等方式對(duì)制備產(chǎn)物的特性與分子構(gòu)成進(jìn)行表征。隨后，介紹在Visual Basic6.0環(huán)境下對(duì)上位機(jī)軟件進(jìn)行設(shè)計(jì)，利用VB強(qiáng)大的面向?qū)ο筇攸c(diǎn)，簡化軟件設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度。并且模塊化的編程，也使得開發(fā)界面更加人性化。通過對(duì)上位機(jī)總體功能的分析，將上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)分為:登錄門限、主界面、串口通信模塊、檢

3、測操作模塊、儀器參數(shù)設(shè)置模塊和系統(tǒng)測試模塊的設(shè)計(jì)和調(diào)試。
　　最后，對(duì)熒光偏振檢測系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理算法進(jìn)行了設(shè)計(jì)，采用基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的樣本集分割集成算法，可以對(duì)檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行智能的數(shù)據(jù)分析和仿真運(yùn)算，以此來對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化。
　　本課題通過系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)調(diào)試，驗(yàn)證了熒光偏振檢測系統(tǒng)能夠完成檢測任務(wù)。系統(tǒng)采用基于樣本集分割的集成算法對(duì)檢測結(jié)果進(jìn)行了分析處理，根據(jù)數(shù)據(jù)分析結(jié)果可以看出:儀器重復(fù)性誤差CV≤3％，孔位測試的不均勻性≤2％，這