8位單片機的測試與分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著工業(yè)控制領域對集成電路性能要求的不斷提高和消費電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，單片機技術獲得了巨大的發(fā)展。傳統(tǒng)的8位單片機的性能較之以往有了很大的提升，其憑借著顯著的性價比，在儀器儀表、工業(yè)控制、實用家電等低端應用領域依舊占據(jù)主流地位。然而，集成電路芯片功能的日益增強、集成電路生產(chǎn)制造成本的逐步降低以及對測試故障覆蓋率更嚴苛的要求，使得集成電路的測試變得越來越困難。傳統(tǒng)的功能測試需要人工編寫測試矢量，加之故障覆蓋率較低，已逐漸不能適應當今芯片測

2、試的要求。而可測性設計(DFT)測試法正是為了適應這種需求而產(chǎn)生的。DFT測試法通過在芯片中增加額外的邏輯來實現(xiàn)對電路的可控性和可觀測性，對于提高故障覆蓋率，降低測試成本有著顯著的作用。
　　本文首先詳細介紹和分析了DFT測試的原理及主要方法，然后針對8位單片機(MCU)芯片SH79FXX的DFT測試進行分析，根據(jù)芯片特點，重點分析了測試向量的壓縮方案和引腳復用方案。最后通過仿真分析得出芯片的故障覆蓋率達到95.0％，存儲器故障覆

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