一種八位單片機的測試解決方案.pdf

1、本文的研究目的是提供一個完整的單片機測試流程，從設計到生產(chǎn)，更多的關注業(yè)界中使用的實際操作方法。本文從典型的51系列單片機的電路結構分析開始，再結合集成電路的測試基本原理，深入的研究了單片機的測試方法，最后實現(xiàn)單片機的量產(chǎn)測試。
　　首先本文介紹了通用的51系列單片機的架構。通過對單片機不同模塊的功能介紹，說明了一些模塊的電路結構和功能描述，為之后的測試討論奠定了基礎。接下來介紹了一些有關集成電路測試的基礎知識，了解這些測試原理，

2、可以更深入的開發(fā)測試算法或者使用可測性設計(DFT)技術。
　　然后本文介紹了單片機測試常用的DFT技術，通過使用掃描(SCAN)測試方法，可以實現(xiàn)大部分數(shù)字電路的測試，包括單片機的組合電路和時序電路部分。而使用存儲器內(nèi)建測試(MBIST)技術，可以高效的完成單片機內(nèi)部嵌入式的存儲器測試。靜態(tài)電流(IDDQ)測試則從單片機的可靠性角度出發(fā)，能夠檢測出很多芯片內(nèi)部的潛在問題。將以上的幾種方法結合，就能生產(chǎn)出易于測試的單片機芯片。