水晶晶片自動(dòng)分檢技術(shù)的研究.pdf

1、進(jìn)入二十一世紀(jì)以來,手機(jī)、電腦等電子產(chǎn)品成為人們生活中不可或缺的一部分,他們共同的特點(diǎn)是都有一個(gè)CPU,CPU的主頻代表著設(shè)備的處理速度,外部晶體振蕩器的頻率則是CPU主頻的基準(zhǔn)源。晶振以其精度高、穩(wěn)定度高以及價(jià)格低廉得到了廣泛的使用,然而晶振中的晶片存在的缺角、劃痕和污漬等缺陷,導(dǎo)致晶振的頻率不穩(wěn)定,嚴(yán)重影響其性能。因此,如何快速準(zhǔn)確地分檢出有缺陷和無缺陷晶片在晶振的生產(chǎn)中具有十分重要的意義。
　　 本文對(duì)基于數(shù)字圖像處理技術(shù)

2、分檢水晶晶片做了深入的研究,結(jié)合水晶晶片的特點(diǎn)設(shè)計(jì)了基于數(shù)字圖像處理技術(shù)的自動(dòng)分檢系統(tǒng)。本文首先介紹了圖像采集系統(tǒng)的硬件搭建,包括光源與攝像機(jī)的選擇、照明方案的設(shè)計(jì);其次介紹圖像采集系統(tǒng)的控制程序以及圖像采集系統(tǒng)的控制程序與圖像處理程序之間的協(xié)調(diào)工作方式;然后介紹了對(duì)晶片圖像的圖像預(yù)處理處理算法;最后針對(duì)需要檢測(cè)的倒角晶片大缺角、倒角內(nèi)微小缺角、裂紋、污漬的晶片缺陷,提出并實(shí)現(xiàn)了具體的檢測(cè)算法。
　　 根據(jù)晶片圖像的特點(diǎn),設(shè)計(jì)缺