2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、目的:探討非貴金屬合金樁核冠MR不同序列掃描偽影大小,通過變換不同的掃描參數(shù)探討其對偽影大小的影響,以指導(dǎo)臨床對材料的選擇,確保對口腔內(nèi)有固定金屬物患者行磁共振掃描時能獲得優(yōu)質(zhì)圖像。
  材料與方法:選用臨床常用的兩種非貴金屬口腔修復(fù)材料鈷鉻合金和鎳鉻合金,分別制成左下6標(biāo)準(zhǔn)樁核冠模型做為實驗組,用丙烯酸樹脂制成大小、形狀相同的左下6標(biāo)準(zhǔn)樁核冠模型做為對照組。應(yīng)用1.5T MR掃描儀,采用頭線圈對水模進行掃描。
  掃描策略

2、如下:
 ?、艑嶒灲M和對照組均行橫斷面T1WI、T2WI、FLAIR、T2*WI、DWI序列掃描;
 ?、品謩e調(diào)整每個序列的成像參數(shù),對鈷鉻合金模型及鎳鉻合金模型進行掃描。觀察每個序列中偽影面積最大的層面并測量其面積,每個數(shù)據(jù)均測量3次。應(yīng)用SAS V8軟件對結(jié)果進行統(tǒng)計學(xué)分析,以P<0.05為差異有統(tǒng)計學(xué)意義。
  結(jié)果:鈷鉻合金、鎳鉻合金、樹脂對照組在各個序列中產(chǎn)生偽影面積兩兩之間差異均有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.000

3、1)。T1WI與FLAIR序列之間偽影大小差異無統(tǒng)計學(xué)意義,其分別與 T2WI、T2*WI、DWI序列兩兩之間差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.0001)。鎳鉻合金偽影較鈷鉻合金偽影受參數(shù)變化影響明顯。TE:在T2*WI序列,增大TE值可以減小兩種金屬偽影(P<0.05);FOV:在FLAIR及DWI序列,縮小鈷鉻合金FOV可以減小金屬偽影(P<0.05);BW:在T1WI序列,增大BW,可以減小兩種金屬偽影(P<0.05);Matrix:在T

4、1WI序列,增大Matrix可以減小兩種金屬偽影(P<0.05),在FLAIR序列,增大Matrix可以減小鎳鉻合金偽影(P<0.05);Thk:在T2*WI序列,增大Thk可以增大兩種金屬偽影(P<0.05);ETL值:在T2WI序列,增大ETL可以減小鎳鉻合金偽影,在FLAIR序列,增大ETL可以減小鈷鉻合金偽影(P<0.05);FA:在FLAIR序列,增大FA可以減小鎳鉻合金偽影(P<0.05);NEX:在DWI序列,增大NEX可

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