版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
1、1,國內(nèi)外碳化硅電力電子進展,IC-CHINA 2010CETC第五十五研究所 李宇柱2010年10月23日,2,一、碳化硅的市場二、國外技術(shù)進展三、我國發(fā)展狀況四、發(fā)展建議,內(nèi)容提要,3,碳化硅相比于硅的優(yōu)勢,與硅相比,碳化硅(4H-SiC)具有:10倍以上的臨界電場強度 3倍禁帶寬度3倍的熱導率,,工作于更高的溫度和輻射環(huán)境更高的系統(tǒng)效率(損耗降低1/2)芯片面積1/5工作頻率高, 10kV器件@20kHz單
2、個器件更高的電壓(20kV以上)可減小體積和重量:減少或免除水冷,免除笨重的50Hz變壓器。,4,600V-1200V 的碳化硅器件,節(jié)能,高頻的SiC二極管,目前用于高效電源(包括LED TV的電源)、太陽能逆變器。 等開關(guān)器件量產(chǎn)之后,將引領(lǐng)另一波增長,比如混合電動汽車可可以取消一路制冷,省油10%。比如5kW的 inverter,比硅系統(tǒng)小7倍,輕8倍,節(jié)能20%(同時滿足),非常適合在空間飛行器、飛機上的應(yīng)用。,5,1700
3、V-6500V的碳化硅器件,比如風力發(fā)電、電力機車。 2020年歐洲風能增加6倍,每個5兆瓦的風力發(fā)電機需要160兆瓦的電力電子器件,市場巨大。在這種更高電壓,更大功率的應(yīng)用中,碳化硅器件節(jié)能,高頻優(yōu)勢更加明顯。Cree已經(jīng)推出1700V,25A二極管產(chǎn)品。 。,6,高于10kV的碳化硅器件,10kV的存取電系統(tǒng):未來電網(wǎng)有更多的分布式新能源(太陽能,風能。。。),需要儲存電能。降壓,儲存,升壓這一個來回,SiC可以節(jié)能10%,并且去除
4、笨重的60hz變壓器。HVDC:中國西電東輸。挪威的海上石油平臺,歐洲海上風電場需要長距離高壓輸電。需要20kV或更高電壓的碳化硅器件。,7,低電壓市場爆發(fā)增長,高壓器件將陸續(xù)出貨,1.第一波市場是肖特基二極管:2008銷售額達2300萬美元,2010年已達1億美元。(2010財政年度,2010年7月為止)。去年Cree 二極管銷售增長120%。2005年以來平均68%的年增長率。2.器件價格不斷下降。從2007年到2010年, C
5、ree的碳化硅二極管價格降了3倍。這是通過三方面的措施實現(xiàn)的:增大晶圓、提高材料質(zhì)量和工藝水平、擴大規(guī)模。Cree于07年,英飛凌于08年轉(zhuǎn)為4寸生產(chǎn)線。為了進一步降低器件成本,Cree在2010年歐洲碳化硅會議上發(fā)布6英寸襯底, 一年后量產(chǎn)。同樣的外延爐,6寸比4寸增加50%的有效面積。3. 英飛凌在2010年歐洲碳化硅會議上宣布,2011年量產(chǎn)碳化硅開關(guān)器件(JFET)。這將引領(lǐng)更大的市場增長。4.Cree已經(jīng)推出1700V 二
6、極管。市場拓展到馬達驅(qū)動領(lǐng)域。,8,材料的來源和質(zhì)量,2009年的統(tǒng)計,英飛凌和Cree每月各需要1500片4寸片。 Cree的4寸導電襯底基本被Cree和英飛凌瓜分,少量被意法半導體等拿到。大市場和壟斷、高利潤不可能并存,市場有巨大的擴產(chǎn)、降價和增大晶圓的壓力。今年更多的供應(yīng)商開始提供4英寸高質(zhì)量襯底。比如II-VI半年內(nèi)產(chǎn)能擴大到3倍,5年內(nèi)襯底產(chǎn)量增到9倍(絕大部分來自電力電子襯底)。 II-VI公司準備明年發(fā)布6英寸。Dow
7、Corning 大踏步進入襯底和外延市場。預(yù)計5年后,健全的6英寸產(chǎn)業(yè)鏈將打開白色家電的市場。3. 材料的質(zhì)量: 材料供應(yīng)商面臨很大的壓力提供零微管襯底。這是大電流器件必需的條件。 現(xiàn)在不僅Cree,II-VI,DowCorning已經(jīng)具有零微管技術(shù)。 現(xiàn)在研究的熱點是降低外延的缺陷:目前最好的外延缺陷水平0.7/cm2,已經(jīng)大于襯底的缺陷密度,成為瓶頸。預(yù)計外延很快有大幅度的改良。東京電子20
8、10年歐洲碳化硅會議上發(fā)布了碳化硅外延設(shè)備:6x6英寸。,9,節(jié)能減排的大背景,2005年全世界碳排放28萬億噸,如果不采取措施,2050年會達到65萬億噸。采取積極措施之后,可以降到14 萬億噸,最重要的措施是:1.新能源:可以降低21%的碳排放。2.節(jié)省用電:高效用電技術(shù)可以減少24%的碳排放。碳化硅電力電子在以上兩方面都有重要應(yīng)用。,10,節(jié)能方面比LED更有潛力,因為照明(包括LED),只占20%的電能應(yīng)用。80%的電能用
9、于馬達、電源。盡管Cree目前85%的利潤來自LED。Cree公司宣稱絕不放棄電力電子市場。,11,國外碳化硅器件研究狀況,12,國外:多種器件系統(tǒng)研發(fā),其中低功率SBD已經(jīng)產(chǎn)品化。,目前重點開發(fā)的器件類型:,13,美國 Cree: MOSFET、BJT、JBS、GTO GE: VDMOS, 模擬集成電路 Semisouth:JFET、JBS 日本 Rohm:MOSFET
10、 Mitsubishi:MOSFET AIST:MOSFET Hitachi: JFET DENSO:JBS KEPCO:模塊歐洲 Infineon :JBS, JFET Bosch:模擬集成電路,碳化硅器件開發(fā)機構(gòu)列舉,14,碳化硅單極器件,15,美國Cree和德國英飛凌等多家公司能夠提供碳化硅 SBD的系列產(chǎn)品,其中反向耐壓有600V,1200V,1700V多個系列,正向電流最高達5
11、0A。目前國外已經(jīng)淘汰了2英寸碳化硅晶圓,目前主流是3英寸。英飛凌、Cree已經(jīng)開始采用4英寸生產(chǎn)線。英飛凌2005年開始推出第二代碳化硅SBD:JBS二極管。,碳化硅肖特基二極管產(chǎn)業(yè)發(fā)展,16,碳化硅MOSFET:研發(fā)階段,日本Rohm公司在3英寸晶圓上制作的1200V/20A MOSFET, 碳化硅MOSFET和SBD組成的IPM模塊。,17,碳化硅高壓肖特基二極管,Cree 10kV 20A SiC 模塊,Cree在3英寸
12、晶圓上制作的10kV/20A 肖特基 二極管。芯片面積達到 15mm x 11mm。,18,碳化硅高壓MOSFET,Cree在3英寸晶圓上制作的10kV/20A MOSFET。芯片面積超過 8mm x 8mm。,19,碳化硅雙極器件,雙極型碳化硅器件是高功率器件的未來,碳化硅可以實現(xiàn)20kV以上的二極管、晶閘管、IGBT。目前已經(jīng)有零微管4英寸單晶技術(shù)和超過200um的厚外延技術(shù)。瓶頸是外延質(zhì)量。,20,碳化硅PIN二極管,Cree在2
13、英寸晶圓上制作的20kV/10A PIN 二極管,21,碳化硅IGBT,Cree公司報告了一個碳化硅n溝道IGBT,其特征電阻22m?cm2,反向抵抗13kV。其特征電阻比13kV碳化硅單極器件低了大概10倍!展示了碳化硅材料提供高功率的潛力。但是碳化硅IGBT的技術(shù)難度很大。,22,碳化硅GTO,2009年Cree公司報告了一個大面積碳化硅GTO, N型襯底。,23,碳化硅GTO,Cree公司的9kV GTO,單芯片電流400A,24
14、,碳化硅GTO,20kV器件。提高少子壽命和減少BPD缺陷至關(guān)重要,是目前外延技術(shù)研究的熱點。,25,碳化硅高溫集成電路,26,GE:NMOS OPAMP,室溫增益=60dB,300 ℃增益=57.9dB 。地熱發(fā)電,發(fā)動機燃燒控制。。。Bosch:NMOS, 汽車尾氣探測,400 ℃。NASA:JFET集成電路,500 ℃,4k小時可靠性測試?,F(xiàn)在正在空間站運行。Raytheon:CMOS,碳化硅集成電路研究取得進展,27
15、,10kV以下的器件會陸續(xù)上市場。>20kV的器件方面,外延材料是研究熱點。集成電路開始成為研究熱點。耐高溫和高壓器件的封裝測試問題開始受到重視。,國外發(fā)展總結(jié),28,55所的碳化硅工作,29,外延,生長的10微米外延薄膜表面原子力圖像.,30,器件,,,31,因為電力電子器件工作時自發(fā)熱較多,額定工作結(jié)溫一般在125℃。 所以室溫測試對于電力電子器件來說意義不大,所有測試都是在結(jié)溫125℃下進行。 和硅二極管對比。硅
16、二極管是國際整流器公司的600V-30A超快二極管:IRGP30B60KD。碳化硅二極管是我們的600V-30A SiC JBS。,應(yīng)用:續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,32,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,IGBT的開通特性:左圖硅二極管,右圖碳化硅二極管。減少了IGBT電流尖峰,減少了EMC。,測試條件:VCC=400V;IC=35A;Rg=27?;Tj=125℃.CH1:IC=15A/div;CH2:VCC=100V/div;
17、timebase=200ns/div,——IGBT開通,33,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,——IGBT開通,IGBT 開通特性比較,34,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,——IGBT開通,在不同電流下,和兩種二極管配對的IGBT開通能耗比較。,35,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,IGBT的關(guān)斷特性:左圖硅二極管,右圖碳化硅二極管?;緵]有差別。,測試條件:VCC=400V;IC=35A;Rg=27?;Tj=125℃。 CH1:I
18、C=10A/div;CH2:VCC=100V/div;timebase=200ns/div,——IGBT關(guān)斷,36,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,二極管的反向恢復(fù)特性:左圖硅二極管,右圖碳化硅二極管。,測試條件:VCC=400V;IF=-35A;Rg=27?;Tj=125℃ CH1:IC=15A/div;CH2:VCC=200V/div;timebase=100ns/div,——二極管反向恢復(fù),37,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,
19、35A下,二極管反向恢復(fù)特性比較。另外,碳化硅二極管的軟度比硅二極管高,所以電壓尖峰從560V下降到440V,過電壓從160V(40%過電壓)下降為40V(10%過電壓),提高了模塊的可靠性。,——二極管反向恢復(fù),38,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,在不同電流下,兩種二極管反向恢復(fù)能耗比較。,——二極管反向恢復(fù),39,續(xù)流二極管對IGBT模塊的影響,35A電流下,兩種600V IGBT模塊動態(tài)能耗比較。和國外產(chǎn)品報道相當(參見C
20、ree公司產(chǎn)品介紹)。,——模塊動態(tài)總能耗,40,需要解決的問題,兩種600V 二極管正向特性比較。SiC芯片面積 受到目前工藝所限,因此SiC二極管正向壓降較大。,41,國內(nèi)的碳化硅現(xiàn)狀,國內(nèi)對碳化硅很熟悉:各個大學普遍都有國外公司送的碳化硅器件樣品。國內(nèi)有電源廠家用碳化硅肖特基二極管。,42,碳化硅產(chǎn)業(yè)鏈健全,核心技術(shù)落后,國內(nèi)產(chǎn)業(yè)鏈比較健全,基礎(chǔ)技術(shù)(單晶,外延和器件)離國外有很大距離。單晶:天科合達,46所,神舟,硅酸鹽所外
21、延:中科院,西電,13所,55所器件:西電,13所,55所,南車封裝: 13所,55所,南車電路應(yīng)用:清華,浙大,南航,海軍工程大學用戶:國網(wǎng),南車(筆者信息有限,如有遺漏,特此致歉),43,未受到重視,研究處于小規(guī)模和分散狀態(tài)。至今還沒有上馬針對碳化硅電力電子的國家科研項目。今年海軍工程大學和國家電網(wǎng)先后組織過碳化硅研討會,碳化硅逐漸擴大影響。根據(jù)國外的發(fā)展速度來看,我們現(xiàn)在如不下決心投入,會失去機會。,44,國內(nèi)發(fā)
22、展建議:,(1)盡快提高二極管器件的性能,形成小批量生產(chǎn)和送樣能力。(2)盡快實現(xiàn)開關(guān)器件和高壓器件的突破。要趕在國外6英寸大規(guī)模生產(chǎn)之前(2~3年)完成技術(shù)積累。 國外是通過國家項目支持,然后快速產(chǎn)業(yè)化。我們需要國家投入,需要產(chǎn)學研的合作,需要材料、器件和封裝產(chǎn)業(yè)鏈的合作。,45,,李宇柱,男(漢族),1975年生,1999年9月畢 業(yè)于北京清華大學電子系微電子專業(yè),獲學士學位。 2008年1月畢業(yè)于美國Rutgers
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 寬禁帶半導體碳化硅器件的研究.pdf
- 半導體分立器件
- 碳化硅功率器件
- 第七屆中國半導體行業(yè)協(xié)會半導體分立器件分會年會暨
- 碳化硅RSD器件關(guān)鍵工藝探索.pdf
- 碳化硅MOS器件電學特性研究.pdf
- 碳化硅器件與模型的研究.pdf
- 32052.半導體分立器件低溫特性研究
- 碳化硅基VDMOS器件SPICE模型研究.pdf
- 碳化硅PMOS器件特性模擬及仿真.pdf
- 碳化硅SBD和MESFETs功率器件研究.pdf
- 碳化硅特性
- 碳化硅器件及其溫度特性的研究.pdf
- 分立半導體元器件焊點缺陷的研究
- 碳化硅擾動噴嘴應(yīng)用說明_碳化硅擾動噴嘴的優(yōu)勢
- gjb33a1997半導體分立器件總規(guī)范
- gjb33a1997半導體分立器件總規(guī)范
- 碳化硅MOS器件和電路技術(shù)的研究.pdf
- gjb128a-1997半導體分立器件試驗方法
- 碳化硅器件的溫度特性及其關(guān)鍵工藝研究.pdf
評論
0/150
提交評論