gjb128a-1997半導(dǎo)體分立器件試驗方法

1、中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體分立器件試驗方法TestmethodsForsemicondctordiscretedevicesGJB128A97代替GJB128861范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件以下簡稱器件的通用試驗方法包括軍用條件下抗損害能力的基本環(huán)境試驗機械性能試驗和電特性測試1.2適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于軍用半導(dǎo)體分立器件1.3應(yīng)用指南1.3.1規(guī)定試驗室中的試驗條件要適當(dāng)使試驗結(jié)果等效于現(xiàn)場使用結(jié)果試驗結(jié)果要能再

2、現(xiàn)但這不能理解為試驗條件完全等同某一地區(qū)真實的工作條件這是因為只有在某一地區(qū)實際工作的試驗才是那個地區(qū)真實的工作試驗用一個標(biāo)準(zhǔn)描述各種通用半導(dǎo)體器件規(guī)范中性質(zhì)相似的試驗方法時就可以使這些方法保持統(tǒng)一從而可以充分利用設(shè)備設(shè)施和節(jié)省工時為了達(dá)到這一目標(biāo)要使每一種通用試驗方法適用于多種器件1.3.2在詳細(xì)規(guī)范中引用本標(biāo)準(zhǔn)的試驗方法時應(yīng)注明本標(biāo)準(zhǔn)編號試驗方法編號及所引用試驗方法中應(yīng)規(guī)定的細(xì)節(jié)2引用文件GB313188錫鉛焊料GB402386半導(dǎo)

3、體分立器件第2部分整流二極管GB402483半導(dǎo)體器件反向阻斷三極晶閘管的測試方法GB458694半導(dǎo)體器件分立器件第8部分場效應(yīng)晶體管GB458794半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第7部分雙極型晶體管GB657086微波二極管測試方法GB657194半導(dǎo)體器件分立器件第3部分信號包括開關(guān)和調(diào)整二極管GB949188錫焊用液態(tài)焊劑松香基GB1149989半導(dǎo)體分立器件文字符號GB1230090功率晶體管安全工作區(qū)測試方法GB33A97半導(dǎo)

4、體分立器件總規(guī)范GIB360A96電子及電氣元件試驗方法GJB762.1一89半導(dǎo)體器件輻射加固試驗方法中子輻照試驗GJB762.389半導(dǎo)體器件輻射加固試驗方法г瞬時拍輻照試驗GJB1209一91微電路生產(chǎn)線認(rèn)證用試驗方法和程序C.規(guī)定溫度下限的試驗例如老煉和壽命試驗等在試驗要求規(guī)定有試驗溫度下限時試驗箱結(jié)構(gòu)和控制應(yīng)使得工作區(qū)域內(nèi)任一點的溫度與規(guī)定的溫度下限的偏差不超過80或80以大者為準(zhǔn)但緊靠發(fā)熱樣品處除外4.1.2電測試頻率除非另

5、有規(guī)定電測試頻率為100025Hz4.1.3準(zhǔn)確度規(guī)定的極限是在規(guī)定的標(biāo)稱的試驗條件下得到的絕對真值在確定用作測量值的工作極限時應(yīng)為測試誤差包括由于偏離標(biāo)稱的測試條件引起的給出適當(dāng)?shù)脑Ａ恳允蛊骷?shù)的真值正如它們在標(biāo)稱測試條件下那樣處于規(guī)定的權(quán)限以內(nèi)除非另有規(guī)定器件的所有測試3000類4000類和其它規(guī)定的電參數(shù)應(yīng)保持下述測試公差和預(yù)防措施雖然在有關(guān)文件中規(guī)定的測試條件嚴(yán)于下述公差但在一般情況下應(yīng)遵循下述規(guī)定的條件和預(yù)防措施a.偏置條件

6、應(yīng)在規(guī)定位的全3以內(nèi)b.輸入脈沖特性重復(fù)頻率頻率等應(yīng)保持在10以內(nèi)標(biāo)稱值的選擇應(yīng)使得10的變量或?qū)嶋H試驗設(shè)備的變量當(dāng)小于10時不影響規(guī)定值的測量準(zhǔn)確度或有效性c.擊穿試驗所加電壓應(yīng)保持在規(guī)定值的l以內(nèi)d.陰性負(fù)載的誤差應(yīng)是5e.容性負(fù)載的誤差應(yīng)是10或lpF以大者為準(zhǔn)f.感性負(fù)載的誤差應(yīng)是10或5H以大者為準(zhǔn)g.測量靜態(tài)參數(shù)的誤差應(yīng)在1以內(nèi)h.測量開關(guān)參數(shù)的誤差應(yīng)在全5或1ns以內(nèi)以大者為準(zhǔn)4.1.3.1試驗方法和電路除非在具體試驗方法

7、中另有規(guī)定所示的方法和電路為基本測試方法它們不是唯一能使用的方法和電路但是承制方應(yīng)向有關(guān)單位證明替代方法或電路是等效的并且所給出的結(jié)果在所希望的測量準(zhǔn)確度之內(nèi)見4.1.34.1.4校準(zhǔn)要求應(yīng)按GJB2712規(guī)定對承制方測量或控制生產(chǎn)過程和檢驗半導(dǎo)體器件所使用的標(biāo)準(zhǔn)和儀器提供校準(zhǔn)及確認(rèn)程序?qū)τ谀切┎荒茏匪莸綐?biāo)準(zhǔn)和技術(shù)的國家計量機構(gòu)的測量應(yīng)當(dāng)保存好標(biāo)準(zhǔn)樣品一旦需要提供證明時可用來作為證明合格的依據(jù)另外還應(yīng)符合下列要求a.校準(zhǔn)儀器的準(zhǔn)確度至少

8、比被校儀器的準(zhǔn)確度高四倍但被校準(zhǔn)項目是現(xiàn)代化設(shè)備除外它的準(zhǔn)確度可接近或等于現(xiàn)代化校準(zhǔn)設(shè)備的準(zhǔn)確度在這種情況下四倍要求不適用但是儀器應(yīng)當(dāng)采用國家計量機構(gòu)所建立的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)b.除非國家計量機構(gòu)推薦較長時間和得到鑒定機構(gòu)同意外承制方電氣標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)時間間隔不得超過一年承制方機械標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)時間間隔不得超過兩年4.2取向X取向是器件主軸垂直于加速力方向主截面平行于加速力方向的方向Y取向是器件主軸平行于加速力主基座面向YI或背向Y2加速力作用方向的