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文檔簡介
1、傳統(tǒng)的自動測試設(shè)備(ATE)已經(jīng)不能滿足大規(guī)模集成電路測試的需求,芯片內(nèi)建自測試(BIST)已經(jīng)逐步運用到芯片測試中.為了推動邏輯的BIST在工業(yè)中的應(yīng)用,研究邏輯BIST具有重要意義.本文以提高邏輯BIST的測試質(zhì)量即提高故障覆蓋率、減少測試硬件開銷和測試時間為目的,對混合式BIST中的測試生成和線性相關(guān)性展開研究.本文首先介紹了BIST的結(jié)構(gòu)原理、測試生成的方法和在邏輯測試中的應(yīng)用方法.然后針對混合式BIST中研究的難點——確定性測
2、試矢量生成,進(jìn)行討論.然后提出了LFSR直接產(chǎn)生法和其測試生成結(jié)構(gòu)并針對映射法、重置種子法提出了靜態(tài)矢量壓縮和確定性矢量串連兩個優(yōu)化算法和結(jié)構(gòu).實驗表明新的方法和結(jié)構(gòu)較為顯著的提高了混合式BIST的測試生成的質(zhì)量.接著本文討論了影響混合式BIST測試質(zhì)量的線性相關(guān)性的產(chǎn)生機(jī)理,分別提出了針對基于一維LFSR的測試生成結(jié)構(gòu)的相關(guān)性檢測方法和步驟以及二維TPG中移相器設(shè)計的算法和步驟.實驗結(jié)果顯示所提出的檢測測試生成中的矢量和結(jié)構(gòu)相關(guān)性的方
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