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1、蘇州大學(xué)碩士學(xué)位論文O等離子體處理控制多孔SiOCH薄膜中的Cu擴(kuò)散姓名:袁靜申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):材料物理與化學(xué)指導(dǎo)教師:葉超2009050102等離子體處理控制多孔SiOCH薄膜中的Cu擴(kuò)散英文摘要ControllingCudiffusioninSiCOHlowkfilmsby02plasmatreatmentAbstractThedevicedimensioncontinuousshrinkinginultralargescal
2、eintegratedchipsleadstothesignalpropagationdelay,dissipmionandcrosslinkbetweenmetalinterconnectsInordertoaddresstheproblems,theAI/Si02structuremustbereplacedwithlowdielectricconstantmaterialsandlowresistivitymetalinterco
3、nnectsAsthesubstitutionofSi02,theporouslowdielectricconstantmaterialshavereceivedmorecloseattentionrecentlyMeanwhile,copperhasbeenadoptedasthesubstitutionofAlinterconnectsinULSIduetoitslowerresistivityHowevertheintegrati
4、onofCu/SiCOHporouslowkdielectricsremainschallengingOwingtotheexistenceofopenporesatthesurfaceofSiCOHlow—kfilms,thediffusionofCuinporousSiCOHlowkfilmsunderthebiasorthethermaltreatmentCanleadtothedeteriorationofelectricalp
5、ropertyTeducetheCudiffusion,thethinbarrierisusuallydepositedatthesurfaceofporousSiCOHfilmsSo,thenewtransitionlayermustbeintroducedtoCu/SiCOHsystemandthenewprocessmustbeusedIfwecanmakemoreopenporesatthesurfacesealedbyplas
6、masurfacetreatment,theCudiffusioninSiCOHfilmsmayalsobereducedThisworkinvestigatestheCudiffusioninSiCOHlowdielectricconstantfilmstreatedby02plasmaBycapacitancevoltageandcurrent—voltagemeasurement,andthermalstressanalysis,
7、itisfoundthatthe02plasmasurfacetreatmentofSiCOHfilmsCanleadtothedecreaseof。leakagecurrent,thedecreaseofflatbandvoltageshift△‰,andtheincreaseofactivationenergy既ThesmallA咋BandlowerleakagecurrentindicatetheweakCudiffusionTh
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