2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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1、在納米技術(shù)領(lǐng)域,微球常被用作測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)頭。隨著加工精度的不斷提高,精密器件特征尺寸趨于微型化,要求測(cè)量系統(tǒng)中應(yīng)用的微球球徑越來越小,如微納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(Micro-Nano Coordinate Measuring Machine,簡(jiǎn)稱微納米CMM)要求其測(cè)頭探球球徑在數(shù)百微米以內(nèi),且球度要控制在數(shù)十納米量級(jí)甚至更高精度。然而,目前對(duì)于微球球度測(cè)量問題的研究仍處于探索階段,還沒有成熟的技術(shù)。
  針對(duì)球徑在數(shù)十微米至亞毫米量級(jí)

2、的微球球度測(cè)量問題,本文提出一種可實(shí)現(xiàn)微球球度高精度測(cè)量的方法,研制了基于該方法的微球球度測(cè)量系統(tǒng),并對(duì)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的性能進(jìn)行了初步測(cè)試。該系統(tǒng)除了可用于微球球度的高精度測(cè)量,也可為微米尺度上其他類似微球結(jié)構(gòu)器件立體空間的表面形貌測(cè)量提供技術(shù)。
  在研制的微球球度測(cè)量系統(tǒng)中,將兩個(gè)由大長(zhǎng)徑比鎢探針和石英音叉構(gòu)建的掃描探針測(cè)頭對(duì)稱放置在微球大圓截面的兩側(cè),同時(shí)掃描微球大圓截面輪廓,采用差動(dòng)方式測(cè)量,以克服微球三維測(cè)量時(shí)主軸徑向運(yùn)動(dòng)誤差

3、的影響。再通過旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)微球的多維度、多方向掃描測(cè)量,獲取微球球面的三維輪廓參數(shù),進(jìn)而獲得被測(cè)微球球度等特征尺寸。系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)包括掃描探針測(cè)頭,測(cè)頭及被測(cè)微球裝夾、驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu),被測(cè)微球旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu),以及視覺引導(dǎo)對(duì)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)等。本文對(duì)整個(gè)微球球度測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)建、調(diào)試進(jìn)行了詳細(xì)介紹,最后對(duì)測(cè)量系統(tǒng)中掃描探針測(cè)頭品質(zhì)因數(shù)、納米定位工作臺(tái)性能、掃描探針測(cè)頭粗對(duì)準(zhǔn)精度等進(jìn)行了相關(guān)測(cè)試實(shí)驗(yàn)。
  實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,研制的微球球度測(cè)量系統(tǒng)掃描探針測(cè)頭

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