經(jīng)典信號(hào)作用下介觀電路量子相位影響的研究.pdf

1、納米電子學(xué)是納米科技的重要領(lǐng)域之一，其中對(duì)單電子現(xiàn)象及其相關(guān)器件的研究是納米電子學(xué)的重要組成部分，并形成固態(tài)科學(xué)與技術(shù)的分支領(lǐng)域一單電子學(xué)。為了正確全面描述相關(guān)隧道結(jié)構(gòu)的單電子現(xiàn)象，必須研究環(huán)境(外電路)對(duì)單電子過(guò)程的影響和彼此之間的相互作用。本文我們對(duì)介觀電路系統(tǒng)在外加電源作用下的電子輸運(yùn)的相位特性作了一些探討。 研究結(jié)果表明：(1)外施電流源為狄拉克沖激函數(shù)時(shí)，由于外加電源和介觀電路系統(tǒng)的相互作用，尤其是介觀電容器的非線性效

2、應(yīng)，介觀電路不僅存在有壓縮效應(yīng)，而且還會(huì)出現(xiàn)量子的崩塌和復(fù)蘇現(xiàn)象。介觀電路中電荷與電流都將存在量子壓縮效應(yīng)，兩共軛量的壓縮效應(yīng)是周期性交替出現(xiàn)的，且只有在相干強(qiáng)度|α|<1時(shí)，才能得到較好的壓縮效應(yīng)；介觀電容器中隧穿電流隨著相干強(qiáng)度的增加，量子崩塌與復(fù)蘇現(xiàn)象越來(lái)越明顯，表明相干強(qiáng)度|α|在隧穿電流的崩塌與復(fù)蘇現(xiàn)象中起著關(guān)鍵性的作用。(2)介觀LC，RLC電路受到交變電源作用時(shí)，電路系統(tǒng)中會(huì)出現(xiàn)存在于任意時(shí)刻的LR幾何相位因子。在電路系統(tǒng)

3、的演化過(guò)程中，它是外加電源和電路系統(tǒng)相互作用波函數(shù)經(jīng)歷非絕熱、非循環(huán)演化而積累出的幾何相位因子，其特點(diǎn)在于依賴于波函數(shù)在參數(shù)空間的演化路徑。同時(shí)由于電路中的介觀電容非線性效應(yīng)以及電路耗散，在交流源作用下介觀電路系統(tǒng)的量子態(tài)會(huì)演化到一個(gè)廣義的壓縮態(tài)。(3)介觀耦合電路在外加交流信號(hào)源作用下的量子相位也是我們的研究工作，得到了如下結(jié)論：介觀電容耦合電路在外加交流源作用下系統(tǒng)的量子態(tài)隨時(shí)間的演化會(huì)演變到一個(gè)廣義的雙模壓縮態(tài)，而這種壓縮效應(yīng)來(lái)自